- 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
- 探测器:SDD探测器
- 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求:15℃至30℃。
- 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
Thick800A测镀银厚度仪是天瑞经过多年的经验积累而精心研发的一款仪器,专门用于镀层行业。该仪器具备全自动软件操作功能,支持多点测试,软件可控制仪器的测试点及移动平台。它是一款功能强大的设备,配合特别开发的软件,在镀层行业中表现出色。
详情介绍
镀银厚度测试仪的性能特点
满足各种不同厚度和不规则表面样品的测试要求。
φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
测镀银厚度仪高精度移动平台能够地定位测试点,重复定位精度低于0.005毫米。
采用高精度激光技术,能够自动检测测试高度。
定位激光用于确定光斑位置,确保测试点与光斑对齐。
鼠标可以控制移动的平台,鼠标点击的地方就是测量的点。
高分辨率探头提高了分析结果的准确性。
良好的辐射屏蔽效果
测试口对高度敏感传感器的保护
测镀银厚度仪技术参数
型号:厚型800A
元素分析的范围包括从硫(S)到铀(U)。
可以同时分析超过30种元素,且具备五层镀层的功能。
测量镀银厚度的仪器通常分析的含量范围从ppm到99.9%。
镀层厚度通常在50微米以内(具体根据材料而异)。
可以选择的任意数量的分析与识别模型。
相互独立的基础效应校正模型。
多变量非线性回收算法
适宜的温度范围为15℃到30℃。
电源要求:交流220V±5V,建议使用交流净化稳压电源。
外形尺寸:576(宽)×495(深)×545(高)毫米。
样品室的尺寸为:500毫米(宽)× 350毫米(深)× 140毫米(高)。
体重:90公斤
标准配置
测量银镀层厚度的仪器采用开放式样品腔。
精密的二维移动样品平台,配备可上下移动的探测器和X光管,实现三维位移。
双激光定位系统。
铅玻璃防护罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高压与低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机和喷墨打印机
应用领域
测镀银厚度仪主要用于检测各种金属的镀层厚度,包括镀金、镀镍、镀锌、镀银和镀铜等。
测量金属镀层的厚度,以及确定电镀液和镀层的成分含量。
主要应用于贵金属加工和珠宝制造行业;银行、珠宝销售及检验机构;电镀行业。