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X荧光镀层测厚仪Thick800A用途介绍：
X荧光镀层测厚仪Thick800A是一款基于X射线原理的无损检测仪器，主要用于金属镀层（如镀金、镀镍、镀锌等）的厚度检测。该仪器由天瑞仪器研发生产，采用定位激光、高分辨率探头及高精度移动平台等技术，能够适应不同厚度及不规则表面样品的测试需求。其元素分析范围覆盖硫(S)至铀(U)，可同时检测30种以上元素和五层镀层结构，广泛应用于电子电器、珠宝首饰、汽车配件等行业领域
X荧光镀层测厚仪Thick800A性能特点：
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加准确
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
X荧光镀层测厚仪Thick800A图片：
