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- 探测器：FAST-SDD
- 电压：220V
- 分辨率：129eV
- 原理：XRF
- 元素范围：AL-U
连接器镀金层测厚仪是由江苏天瑞仪器股份有限公司制造的一种测量镀层及其他金属薄膜厚度的设备。以下是该仪器的详细介绍：
仪器型号及特点，EDX2000A：该型号使用全自动软件进行操作，可以进行多点测试，仪器和移动平台均由软件控制。配备φ0.1mm的小孔准直器，能够满足微小测试点的需求；拥有高精度的移动平台，重复定位精度小于0.005mm；采用高特定的激光进行高度定位，可自动设定测试高度；此外，具备高分辨率探头，使得分析结果更加准确。
详情介绍
EDX600pro连接器镀金层测厚仪是一款高性价比且功能多样的X荧光检测仪，配备了一键测试按钮和高精度的X/Y移动滑轨，使用便利且快速。针对不同的产品尺寸和材料，可以灵活更换适合的准直器和滤光片，以实现测量，同时还能进行元素成分分析、各类异型涂镀层的检测，以及ROHS指令的符合性检测。
连接器镀金层测厚仪 EDX-V：经过超过 30 年的 X 荧光膜厚测量技术研发，这是一款全新的从上到下照射的 X 荧光测试仪。它采用多导毛细管 X 射线光学系统，适合于无损分析和测量极微小部件上的镀层厚度。该仪器能够高效、准确地对微米级电子元件、芯片导线及晶圆微区等部件的镀层厚度和成分进行分析和测量。
连接器镀金层测厚仪由江苏天瑞仪器股份有限公司研发，专门用于测量镀层及其他金属薄膜的厚度。以下是该仪器的详细介绍：
连接器镀金层测厚仪EDX2000A：此设备采用全自动软件进行操作，能够进行多点测试，仪器和移动平台均由软件控制。配备φ0.1mm的小孔准直器，适合微小测试点的需求；具备高精度的移动平台，重复定位精度小于0.005mm；采用激光定位技术，可自动确定测试高度；此外，还配备高分辨率探头，确保分析结果更加准确。
