询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
半导体镀层测厚仪是一种专门为测量镀层厚度而设计的新型仪器。它主要用于金属镀层厚度的测量、电镀液及镀层成分的分析，以及对黄金、铂金、银等贵金属及各种饰品的含量检测。
性能优势
1.半导体涂层测厚仪的精密三维移动平台
2.样品观察系统
的图像识别
4.轻松完成深槽样品的检测。
5.四种微孔聚焦准直器，具有自动切换功能。
6.双重保护机制，确保无缝防撞功能。
7.使用大幅面高分辨率探测器，以降低检测限并提高测试精度。
自动智能控制方式，采用按键操作！
开机时自动进行自检和复位。
半导体镀层测厚仪在打开盖子后，会自动将样品台退出，并抬升Z轴测试平台，以便于放置样品。
关上盖子，推动样品台，降低Z轴测试平台，并自动完成对焦。
直接点击景点或局部景图像以选择测试点。
点击软件界面上的测试按钮，系统会自动执行测试并展示结果。
技术指标
半导体镀层测厚仪可分析的元素范围包括：硫（S）至铀（U）。
同时检测超过24种元素，最多可进行5层涂层的镀膜。
检出限：可达到2ppm，最薄可测试0.005μm。
分析含量通常范围在2ppm到99.9%之间。
镀层厚度一般在50微米以内（具体取决于材料种类）。
重复性：可达到0.1%
稳定性：可达到0.1%
SDD探测器：分辨率可达到135电子伏特。
微孔准直技术：孔径可小至0.1mm，光斑直径也可达到0.1mm。
样品观察：配备了景观和局部两种工业高清摄像头。
准直器组合包括四种规格：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm和Ф0.3mm。
仪器尺寸为：690毫米（宽）x 575毫米（深）x 660毫米（高）。
样品室的尺寸为520毫米（宽）x 395毫米（深）x 150毫米（高）。
样品台的尺寸为：393毫米（宽）x 258毫米（深）
X/Y/Z平台的移动速度：标准速度为200mm/s，速度可达333.3mm/s。
X/Y/Z平台的重复定位精度为小于0.1微米。
操作环境湿度：不超过90%
操作环境温度范围为：15℃至30℃。
性能优势
1、半导体镀层测厚仪具有超高的分辨率、便捷的操作方式、快速的检测速度以及人性化的用户界面。
2、操作简单，通过键盘操作即可获取镀层厚度的检测结果。
3、用户可以通过CCD和舱内照明系统清晰地看到样件的测试位置，从而增强了测试的信心。
4、Thick系列分析仪的测试数据可以直接上传至网络，检测结果便于查看和分享。
5、配备有X射线防护锁，只有在封闭状态下才能发射X射线，确保使用安全。
6、满足不同厚度和不规则表面样品的测试需求。
7、φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
技术参数
1、仪器的外形尺寸为：宽576毫米，深495毫米，高545毫米。
2、仪器样品室的尺寸为：宽500毫米，深350毫米，高140毫米。
3、测试层数设置为5层。
4、元素分析的范围包括硫（S）到铀（U）。
5、分析含量范围为ppm至99.9%。
6、镀层的厚度通常在50微米以内（不同材料可能有所差异）。
7、工作环境温度范围：15℃至30℃
技术援助与售后服务
1、为客户提供为期三天的免费操作培训。
2、整机享有一年保修，联网后可获得售后服务，并提供终身技术支持。
3、在保修期内，如果仪器因非人为因素出现损坏，将提供免费维修服务。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是一家拥有自主知识产权的高科技企业，注册资本为23088万元。该公司旗下设有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。
