可控硅晶闸管门极特性测试仪 型号:DF333852

可控硅晶闸管门极特性测试仪 型号:DF333852 库号：D333852

可控硅晶闸管门极特性测试仪 型号:DF333852 库号：D333852

可控硅晶闸管门极特性测试仪 型号:DF333852 库号：D333852

可控硅晶闸管门极特性测试仪 型号:DF333852 库号：D333852

简介

本测试仪是专门针对小功率可控硅研制开发的测试仪，可测试各种小型塑封管，型号包括 BTA16、MCR100-6、T410等。测试方法符合国标GB-4024-83《半导体反向阻断三极晶闸管的测试方法》，能测试各种小功率可控硅的IGT、VGT、IH三项参数。线路设计简洁精炼，采用单片机控制、自动测试、数字显示、操作简单、维修方便、价格低廉，是电子半导体器件厂家和器件使用厂家 为的检测设备。

主要指标：

1. 触发电压测试范围: 0-2V/0-5V，也可定制其它范围

2. 触发电流测试范围: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范围

3. 维持电流测试范围: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范围

4．根据器件封装可配测试管座

主要特点：

1. 每次测试只需按一下测试按钮即可依次将所设定的参数测完并自动复位等待下次测试。

2. 参数测试结果的显示时间可在1-9秒内任意设定，也可以长时间显示，再按下测试按钮进行下一参数的测试。

3. 有故障判断功能，当被测管是坏的，或因接线错误、接触不良等原因测不出参数时，仪器即自动判断故障，此时测试按钮灯闪烁一下，并能发出嘟的一声报警。

简介

本测试仪是专门针对小功率可控硅研制开发的测试仪，可测试各种小型塑封管，型号包括 BTA16、MCR100-6、T410等。测试方法符合国标GB-4024-83《半导体反向阻断三极晶闸管的测试方法》，能测试各种小功率可控硅的IGT、VGT、IH三项参数。线路设计简洁精炼，采用单片机控制、自动测试、数字显示、操作简单、维修方便、价格低廉，是电子半导体器件厂家和器件使用厂家 为的检测设备。

主要指标：

1. 触发电压测试范围: 0-2V/0-5V，也可定制其它范围

2. 触发电流测试范围: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范围

3. 维持电流测试范围: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范围

4．根据器件封装可配测试管座

主要特点：

1. 每次测试只需按一下测试按钮即可依次将所设定的参数测完并自动复位等待下次测试。

2. 参数测试结果的显示时间可在1-9秒内任意设定，也可以长时间显示，再按下测试按钮进行下一参数的测试。

3. 有故障判断功能，当被测管是坏的，或因接线错误、接触不良等原因测不出参数时，仪器即自动判断故障，此时测试按钮灯闪烁一下，并能发出嘟的一声报警。