- 企业类型:制造商
- 新旧程度:全新
- 原产地:江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
- 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
- 探测器:SDD探测器
- 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求:15℃至30℃。
- 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
标准配置
XRF镀锡测厚仪开放式样品腔。
二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
XRF镀锡测厚仪氧化铝陶瓷镀层测厚仪
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
XRF镀锡测厚仪:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差应用优势
XRF镀锡测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
实现对多镀层样品的分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
镀层样品测试注意事项
XRF镀锡测厚仪先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底材元素含量不一致的,则需要进行基材修正,选用样品所相似的底材进行曲线标定 。
天瑞为所售仪器提供拓展空间,在客户新产品研发所需检测的其它项目,天瑞的化学实验室可为客户提供免费、快速的样品分析。江苏天瑞仪器股份有限公司是一家研发、生产X荧光镀层测厚仪,直读光谱仪,手持式光谱仪,气相质谱仪,液相质谱仪,ROHS测试仪,电感耦合等离子发射光谱仪,等离子体质谱仪,手持式不锈钢材质检测光谱仪,镀层膜厚测试仪,X荧光测厚仪的厂家,分析仪器上市公司,公司坐落于江苏省苏州市昆山市,欢迎广大客户来参观考察。