询价
- 类型：立式光学计
- 测量范围：被测件0～180mm，小示值0.1μm
- 小显示值：0.1μm
- 被测件*大长度：200mm
- 测量力：(2±0.2)N
- 直接测量范围： 10mm
JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。
主要参数
被测件*大长度： 200mm
直接测量范围： 10mm
小显示值： 0.1μm
测量力： (2±0.2)N
示值变动性： 0.1μm
大不准度： ±0.25μm
读数方式： 数字显示
大测量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计
仪器体积： 300×170×410mm
仪器重量：18 kgs
JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。
主要参数
被测件*大长度： 200mm
直接测量范围： 10mm
小显示值： 0.1μm
测量力： (2±0.2)N
示值变动性： 0.1μm
大不准度： ±0.25μm
读数方式： 数字显示
大测量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计
仪器体积： 300×170×410mm
仪器重量：18 kgs
JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。
主要参数
被测件*大长度： 200mm
直接测量范围： 10mm
小显示值： 0.1μm
测量力： (2±0.2)N
示值变动性： 0.1μm
大不准度： ±0.25μm
读数方式： 数字显示
大测量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计
仪器体积： 300×170×410mm
仪器重量：18 kgs
