询价
- 采样精度：\t12BIT
- 信号源范围DDS数字合成信号： 100KHZ-160MHz
- 高精度的AD采样，：保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性
- 信号源频率覆盖比：\t16000
- Q测量范围：\t1-1000自动/手动量程
- 信号源频率精度 6位数：\t3×10-5 ±1个字
介电常数及介质损耗测试仪M129407-STD-C，可直接显示介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）.检测固体材料。
M129407-STD-C介电常数测试仪
M129407-STD-C高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由测试装置（夹具）、高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入STD-C的软件模块)、及电感器组成。依据国标GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法、GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用STD-C数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
M129407-STD-C介电常数/介质损耗测试系统系统组成：
主机：高频Q表
功能名称： STD-C
信号源范围DDS数字合成信号 100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比 16000:1
信号源频率精度 6位数 3×10-5 ±1个字
采样精度 12BIT
高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性
Q测量范围 1-1000自动/手动量程
Q分辨率 4位数,分辨率0.1
Q测量工作 <5%
电感测量范围 4位数,分辨率0.1nH 1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量 <3%
调谐电容 主电容17-240pF
(一体镀银成型,精度高)
电容自动搜索 是(带步进马达)
电容直接测量范围 1pF～25nF
调谐电容
分辨率 ±1 pF或<1%
0.1pF
谐振点搜索 自动扫描
Q合格预置范围 5-1000声光提示
Q量程切换 自动/手动
LCD显示参数 F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr
自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能() 有
大电容值直接测量显示功能() 测量值可达25nF
介质损耗系数 精度 万分之一
介电常数 精度 千分之一
材料测试厚度 0.1mm-10mm
介电常数 LCD直接显示
介质损耗系数 LCD直接显示
介电常数测试频率范围 100KHz-100MHz
介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
样品尺寸：固体：材料测量直径 Φ38mm ；厚度可调 <15mm ；
(极片可以定制)
选配液体杯，可做液体材料的检测。
电感组:
电感No 电感量 准度% Q值≥ 分布电容约略值 谐振频率范围 MHz 适合介电常数测试频率
1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 31~103 50MHz
2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 14.8~46.6 15MHz
3 2.5μH ±5% 200 5pF 6.8~21.4 10MHz
4 10μH ±5% 200 6pF 3.4~10.55 5MHz
5 50μH ±5% 200 6pF 1.5~4.55 1.5MHz
6 100μH ±5% 200 6pF 1.06~3.20 1MHz
7 1mH ±5% 150 8pF 0.34~1.02 0.5MHz
8 5mH ±5% 130 8pF 0.148~0.39 0.25MHz
9 10mH ±5% 90 8pF 0.107~0.32 0.1MHz
10 14nH ±5% 100 5pF 100MHz 100MHz
配置：含STD-C测试主机1台，样品夹具1套，电感1组（9个），如需选配液体杯，费用另计。介电常数及介质损耗测试仪M129407-STD-C介电常数及介质损耗测试仪M129407-STD-C介电常数及介质损耗测试仪M129407-STD-C介电常数及介质损耗测试仪M129407-STD-C
