询价
- 探针间距：1.59mm（探针直径0.8 mm）或1.00 mm（探针直径0.5 mm）
- 电源交流：220V±10%，50HZ
- 外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）
- 功耗：≤20W
- 重量：约3kg
导电型号测试仪是严格按照标准SEMI MF42-1105及标准GB/T1550中的全类型整流法设计。
本仪器将三根测试探针做成测量探头，意两根针之间绝缘度大于500MΩ，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。
探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。
技术参数
（1）标准确认：可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05～1000Ω·cm
（2）本仪器实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104 Ω·cm
（3）可测线度大于5mm的意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制
（4）显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号
（5）探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整
（6）探针间距：1.59mm（探针直径0.8 mm）或1.00 mm（探针直径0.5 mm）
（7）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）
（8）重量：约3kg
（9）电源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W
导电型号测试仪是严格按照标准SEMI MF42-1105及标准GB/T1550中的全类型整流法设计。
本仪器将三根测试探针做成测量探头，意两根针之间绝缘度大于500MΩ，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。
探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。
技术参数
（1）标准确认：可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05～1000Ω·cm
（2）本仪器实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104 Ω·cm
（3）可测线度大于5mm的意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制
（4）显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号
（5）探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整
（6）探针间距：1.59mm（探针直径0.8 mm）或1.00 mm（探针直径0.5 mm）
（7）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）
（8）重量：约3kg
（9）电源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W导电型号测试仪 STY-2R 库号M399715 导电型号测试仪 STY-2R 库号M399715 导电型号测试仪 STY-2R 库号M399715 导电型号测试仪 STY-2R 库号M399715
