- 企业类型:贸易商
- 新旧程度:全新
- 原产地:ZG
- 带宽:500MHz
- 上升时间:≤700ps
- 输出电压:±1V
- 精度:1%

最真实的信号呈现
由于具有极高的共模抑制比和隔离电压、全量程范围内最.大1.41mVrms底噪、优于1% 的测量精度,OIP系列光隔离探头在带宽和精度范围内能最.真实地呈现信号全部特征,是判定其他电压探头所测信号真实性的终.极裁判。

第三代半导体的最.佳测试手段
第三代半导体器件由于导通与关断时间很短,信号具有更快的上升沿和下降沿,信号中具有很高能量的高频谐波,OIP系列光隔离探头在最.高带宽时,仍然具有近100dB的共模抑制比,可以近乎完.美地抑制高频共模噪声所产生的震荡,所呈现的信号没有额外多余成分,是第三代半导体测试的不二之选。

测试氮化镓(GaN)不炸管
OIP系列光隔离探头测试引线短且采用同轴传输,探头输入电容小于3pF,测试氮化镓(GaN)十分安全(当器件工作参数已经处于炸管临界状态时,接上测试设备会多出近3pF电容,不能保证绝.对安全)。

使用灵活
OIP系列探头比传统高压差分探头体积更小,探头引线更精巧,使用更加灵活方便。

测试量程更宽
不同于高压差分探头只可以测试高压信号,OIP系列光隔离探头匹配不同的衰减器,可以测试±2.5V至±2500V的差模信号,并实现满量程输出,达到很高的信噪比。

高效便捷
OIP系列探头响应快,上电即测,无需预热等待,校准时间小于1秒,可实时保证精.确的信号输出。

应用场景
对其他电压探头所测结果准确性、真实性存在质疑时,OIP系列光隔离探头可作为最.终裁判依据。
电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除
电机驱动设计、功率转换器设计 、电子镇流器设计
氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析
高压高带宽测试应用的安全隔离测试
逆变器、UPS及开关电源的测试
宽电压、宽带测试应用
各种浮地测试
产品参数表
光隔离探头型号 | OIP100 OIP100B | OIP200 OIP200B | OIP500 OIP500B | OIP1000 OIP1000B |
---|---|---|---|---|
带宽 | 100MHz | 200MHz | 500MHz | 1GHz |
上升时间 | ≤3.5ns | ≤1.75ns | ≤700ps | ≤350ps |
输出电压 | ±2.5V | ±1V | ||
测试电压 | 1X:±2.5V 10X:±25V 20X:±50V 500X:±1250V 1000X:±2500V | 1X:±1V 10X:±10V 20X:±20V 500X:±500V 1000X:±1000V | ||
传输延迟 | 15.42ns(光纤长度2米) | |||
供电 | Type-C接口, DC:5V | |||
DC测量精度 | 1% | |||
底噪 | <1.41mVrms | |||
共模电压 | 60kVpk | |||
电-光转换器电池工作时长 | 8小时 | |||
光纤长度 | 2米/10米(光纤长度可定制) |
衰减器比例、输入阻抗 | ||
---|---|---|
探头前端 | 衰减比 | 输入阻抗 |
SMA输入 | 1X | 1MΩ || 10pF |
OP10输入 | 10X | 4.47MΩ || 3.0pF |
OP20输入 | 20X | 4.23MΩ || 2.8pF |
OP500输入 | 500X | 12.27MΩ || 2.6pF |
OP1000输入 | 1000X | 30.63MΩ || 2.6pF |
共模抑制比 | ||||||
探头前端 | DC | 1MHz | 100MHz | 200MHz | 500MHz | 1GHz |
SMA | 160dB | 156dB | 116dB | 110dB | 102dB | 96dB |
OP10 | 160dB | 136dB | 96dB | 90dB | 82dB | 76dB |
OP20 | 160dB | 130dB | 90dB | 84dB | 76dB | 70dB |
OP500 | 160dB | 102dB | 62dB | 56dB | 48dB | 42dB |
OP1000 | 160dB | 96dB | 56dB | 50dB | 42dB | 36dB |