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- 类型：多元素分析仪器
- 测量范围：对聚合物材料：LOD(Pb)≤5ppm;LOD(Hg)≤5ppm;LOD(Cr)≤5ppm;LOD(Br)≤5ppm;LOD(Cd)≤5ppm;对铜基体材料：LOD(Pb)≤20ppm;
- 测量精度：0.08%
- 分析时间：30sec~100sec
- 电源电压：0-50
- 适用范围：无卤检测，合金分析，贵金属分析，玩具检测，RoHS检测，金属镀层，石化、炼油、塑料，汽车零部件，电子电气设备，信息通讯设备零件
- 供电方式：见详情
ROHS分析仪 XRF350B元素卤素检测光谱仪
ROHS分析仪 XRF350B元素卤素检测光谱仪
XRF350B元素分析仪光谱仪，ROHS测试仪
XRF350B元素分析仪光谱仪，ROHS测试仪
产品慨述
能量色散 X 荧光光谱仪（EDXRF）
XRF-350B 是一款专门 RoHS 检测仪器，其核心光路系统集合国内 外几十年 EDXRF 尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美 国 EDXRF 前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告； 精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。
XRF-350B 是一款专门 RoHS 检测仪器，其核心光路系统集合国内 外几十年 EDXRF 尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美 国 EDXRF 前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告； 精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。
XRF-350B 是一款专门 RoHS 检测仪器，其核心光路系统集合国内 外几十年 EDXRF 尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美 国 EDXRF 前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告； 精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。
一、XRF-350B机型指标介绍
1.1 工作条件
工作温度：15-30℃
相对湿度：40%～50%
电 源：AC :220V ±5V
1.2 技术性能及指标:
1.2.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
1.2.2 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
1.2.3 测量时间：100-300秒；
1.2.4 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度最--高达1PPM；
1.2.5 能量分辨率为160±5电子伏特；
1.2.6 温度适应范围为15℃至30℃；
1.2.7 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
| 名称 | 技术参数 |
| 探测器 | 美国进口 sipin 电制冷半导体探测器（zui新探测器） |
| 高压电源 | 管流:0~50kV 管压:0~2mA |
| 射线管 | 靶材：Mo , W;功率:50W |
| 准直器 | 光斑大小:φ0.2mm φ0.5mm、φ1.0mm、φ2.0mm、φ3.0mm、φ4.0mm、 φ6.0mmφ8.0mm |
| 样品仓大小 | 439x300x50mm; 仪器尺寸：550x410x320mm; |
| 检出限 | 对聚合物材料：LOD( Pb )≤5ppm ; LOD( Hg )≤5ppm ; LOD( Cr )≤5ppm ; LOD( Br) ≤5ppm ; LOD( Cd )≤5ppm ;对铜基体材料：LOD( Pb)≤20ppm ; |
| 测试时间 | 30sec~100sec |
| 镀层测试参数 | 偏差：D一层＜5%；第二层＜10%；第三层＜15% |
XRF350B元素分析仪光谱仪，ROSH测试仪ROSH分析仪 XRF350B元素卤素检测光谱仪
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