- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 可设定温度范围：-40℃~125℃
- 支援的晶片尺寸：从 3x3 mm 到 45x45 mm
- 产品分类料盘：4个
测试分类机3110-FT为一台适用於IC终端测试(Final Test) 工程产品特性及测试开发用途之测试分类设备。
测试分类机3110-FT支援多种晶片测试，可支援的晶片尺寸从3x3 mm到45x45 mm。亦可加选远端监控功能，操作者得以在任何地点透过网路操作以增加设备使用率。3110-FT三温测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出；配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4 m?的空间发挥zui佳的IC分料能力以节省成本与时间。整合Chroma混合型冰水机与TEC致冷晶片温度控制器後，3110-FT可於进行测试三温测试时，同时控制壳温及接面温度。
测试分类机3110-FT可支援大部分产业的标准通信介面以及提供不同种类测试设备的对接方式。可精准控制温度范围从-40℃到125℃。具有易於操作的软体介面以及可快速更换待测产品之设计。将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。
测试分类机3110-FT参数
测试分类机3110-FT特点
■ 适用於终端测试 (Final Test)
■ 可设定温度范围 -40℃~125℃
■ 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm
■ 具有4个产品分类料盘
■ 支援远端控制操作
■ 具有测试良率控制功能
■ 具有连续自动重测功能
■ 具有即时监控产品分类功能
■ 整合Chroma混合型冰水机
■ 支援 TSD 温度控制
■ zui佳工程三温特性测试平台
■ UPH zui高可达500 pcs
■ 控制下压触力在1到10 kg (选配)
■ Socket温度补偿模组 (选配) ■ 可支授系统层级测试 (SLT) (选配)
