- 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
- 涂镀层最低检出限:0.005μm
- 对焦距离:0-30mm
- 最小测量直径:φ0.2mm
- 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
- 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm
- 仪器重量:50KG
日立XRF测厚仪
XRF镀层测厚和材料分析仪,能为电镀及表面处理行业进行快速的质量控制和验证测试,可以在几秒内就可以获取准确的数据。
一、FT160系列镀层测厚仪产品介绍:
FT160系列镀层测厚仪旨在应对超薄镀层的挑战,例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果,有校提高生产力,同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规所带来的成本浪费。FT160系列镀层测厚仪易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程,在问题引发危机之前及时发出提醒。
FT160系列镀层测厚仪采用了新款高分辨率样品观察相机和改进的照明,样品的预览和测量点的选择变得更加清晰和简便。
二、FT160系列镀层测厚仪特点:
1、高性能XRF镀层测厚仪,适用于超小部件上的超薄镀层分析;
2、使用多毛细管光学聚焦系统,光斑尺寸<50um;
3、数秒间测试纳米级镀层厚度;
4、简单易用的操作软件;
5、强大的数据处理能力
三、FT160系列镀层测厚仪适用的厚度范围:
四、FT160系列镀层测厚仪-XRF结构:
日立XRF测厚仪FT160系列镀层测厚仪强大功能使其成为实验室的理想选择:有着安排紧凑的工作流程,但精度、多功能性和效率是维持此工作流程正常运转的必备要素。