- 企业类型:贸易商
- 新旧程度:全新
- 原产地:深圳
- 仪器外形尺寸:235mm×140mm×150mm(H)
- 测量时间:60-240s(软件自动调整)
禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D
外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)
样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)
仪器重量:50kg
供电电源:AC220V/ 50Hz
功率:330W
工作温度:15-30℃
相对湿度:≤85%,不结露
探测器
类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)
Be窗厚度:1mil
晶体面积:25mm2
分辨率:145eV
信号处理系统:DP5
X射线管
电压:0-50v
电流;2mA
功率:50W
靶材:Mo
Be窗厚度:0.2mm
使用寿命:大于2w小时
高压电源
输出电压:0-50Kv
灯丝电流0-2mA
功率:50w
纹波系数:0.1%(p-p值)
8小时稳定性:0.05%
摄像头
焦距:微焦距
驱动:免驱动
像素:500万像素
准直器、滤光片
系统:快拆卸准直器、滤光片系统
材质:多种材质准直器
光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选
十字激光头
光斑形状:十字线
输出波长:红光650nm
光学透镜:玻璃透镜
尺寸:Φ10×30mm
发散角度:0.1-2mrad
工作电压:DC 5V
输出功率:<5mW
工作温度:-10~50℃
其它配件
开关电源:进口高性能开关电源
散热风扇:进口低噪声、大风量风扇
样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
辐射标志警示
仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试
模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率
光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点准确定位,避免材质干扰,测量结果更准确
空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计
电路系统符合EMC、FCC测试标准
软件技术
分析元素:Na~U之间元素
分析时间:90秒
界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作
数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全
根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度
配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D
禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D
禾苗 镀层膜厚测试仪E3-3D