- 仪器类型：X射线
- 探测器：SI－Pin半导体
- X射线照射方向：上照式
- 元素分析范围：硫（S）－铀（U）
- 仪器测试范围：1层－5层镀层，0.005－50um
- 仪器尺寸：576×495×545mm
- 仪器重量：90Kg
镀层测厚仪厂家
天瑞仪器昆山总部的研发及生产基地
镀层测厚仪厂家江苏天瑞仪器股份有限公司 研发生产销售X射线检测仪器，其中是最内最早的把X射线检测应用到电镀镀层厚度检测的厂家，在国内电镀企业厂家的市场占有率，仅次于飞希尔仪器，也正是天瑞推出了新型的上照式X射线测厚仪THICH800A后飞希尔等进口仪器厂家，才把仪器价格由早前的五六十万降到如今的价格，相信有天瑞X射线镀层测厚仪的推动，会对国内电镀企业的更好的发展作出贡献。
上照式设计，X射线从上向下照射，可以保证光线照射到样品的标准距离是一样的，从而减少X射线因为光线距离不一样而带来的误差。
X射线照射到待测样品表面，对样品没有损害，大多数样品测试后不影响正常发货使用
X射线检测不需要化学试剂，没有耗材，减少没有必要的开销
从开始检测到检测出结果，仅需要十几秒到几十秒，真正可以做到快速、无损、无耗材
最多可以检测五层电镀镀层的厚度，最少可以测0.001um
仪器实拍图
仪器需联系电脑使用，把待测样品放入仪器内，点击电脑操作，一键操作，几十秒出结果，同时可以将检测的镀层厚度的结果以的形式打印出来
同时还可以根据客户的实际要求可以更改
天瑞X射线镀层测厚仪THICK800A，广泛应用于电镀及表面处理企业和厂家、电子电器制造厂家、二极管生产及封装厂家、第三方检测机构等
