数字手持式风速 N962

数字手持式风速  N962      适用于公共卫生、劳动卫生、环境监测等行业部门,测量室内风速温湿度或相关场所。工作原理风速敏感元件(热敏电阻)通过电流后,温度升高,电阻值增大.当有气流流过敏感元件时,温度降低,阻值减小.将电阻值的变化转换成风速量,以数字的形式进行显示.仪器结构N962型数字式微风速温湿度仪由主机及传感器（探头）两部分组成。主机上设有电源开关，档位切换按键，充电器插口，调零孔及显示器等。传感器由可伸缩的测杆，信号电缆，探头及其保护罩（可上下移动）等构成 
产品参数 数字手持式风速  N962 量程范围  
风速:0.00-10.00m/s或0.00-20.00m/s  
湿 度: 0% -100%R.H.  
温 度: -20℃ ~ +60℃  
分辩率 0.01m/s、0.1% R.H、 0.1℃  数字手持式风速  N962 准确度 风速±5％、湿度: ±3％RH 、温度±0.8℃  
显示 4四位数液晶显示LCD ，按键切换  
尺寸 主机尺寸：180x65x30mm  
重量 约380g  
使用环境 温度0～40℃，湿度0～85%RH  
供电电源 内置可充电池供电  
附件 便携盒，使用说明书，电池充电器外廓尺寸：490*264*304mm

数字手持式风速  N962 

数字手持式风速  N962 

有机合成装置 型号：TC-PPS-2510  
该装置为5连式合成装置，是用来开发新化学反应和催化剂，探讨反应的Z佳条件。合成中间体等，以提高开发试验的效率。  
每根试管设定不同的温度，就可以同时对比5种温度条件，因此可以高效率地完成合成。除了温度调节、搅拌以外，还具备有机合成必要的回流和空气置换机能，另外，通过变换铝片可以改变合成的进程。试验完成以后，不需要将容器移出替换，可以通过液液抽出和浓缩来完成清理。 

机能 
温度设定：操作设定，数码显示。 
搅拌设定：操作设定，数码显示。 
气体置换：真空吸引，惰性气体加压 
还流：高效率循环，瞬时拆装。 
试药添加：可在惰性条件下也可以气体流动下添加。 
反应观察：直观、确认、颜色、反应状态、搅拌力度。 
安全对策：温度控制(×5)压力控制，安全控制规格 
接液部材质：聚四氟 
冷却水接口： 外径 10.5mm 
试验管尺寸：Φ30×200H 
搅拌子尺寸：Φ20×7H(十字型） 
环境温度：5-35℃ 
外型尺寸：465w×315D×465H 
质量：23kg 
电源输入：220V50Hz

产品名称：橡塑电动冲片机 电动冲片机 产品型号：CP-25-II

橡塑电动冲片机 电动冲片机型号：CP-25-II

一、概述 
CP-25-II型橡塑电动冲片机是我司2017年上市的新型冲片机，接通220V电源即可实现对橡胶、塑料、电线电缆等试样的哑铃试片的制取，改变了手动型需要大力气、气动型需要现场有空压气的局限性。更小的体积，更大的冲裁力，更方便的试验手法！CP-25-III型电动冲片机是实验室制样的得力助手！ 

二、主要技术参数 
1.冲切行程：≥100mm 
2.冲裁力：≥10kN (1吨) 
3.工作台尺寸：250X180mm 
4.电源：220V 50Hz 
5.外形尺寸：350X220X450mm 
6.重量：≈45kg 
三、主要特点 
1. 体积小 
2.力气大 
3.现场无需空压气源，安静 
4.实验员操作轻松，省力

产品名称：数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 晶体少子寿命测试仪 产品型号：LT-200

数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 晶体少子寿命测试仪型号：LT-200

LT-200数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪简介 
1. 仪器应用范围及说明 
本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，因此制样特别简便。 
昆德公司数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点： 
可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量，仪器可按需方提供的有标称值的校准样品调试寿命值。 
1.1 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。 
1.2 液晶屏上直接显示少子寿命值，同时在线显示光电导衰退波形。 
1.3 配置的红外光源：0.904～0.905μm波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体少数载流子体寿命，脉冲功率30W。 
1.4 专门为消除陷进效应增加了红外低光照。 
1.5 测量范围宽广 
测试仪可直接测量： 
a、研磨或切割面：电阻率≥0.5Ω?cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。 
b、抛光面：电阻率在0.5～0.01Ω?cm范围内的硅单晶、锗单晶厚度小于1mm的抛光片。 
2. 设备技术要求及性能指标 
2.1 少子寿命测试范围：0.5μs~6000μs              
2.2 样品的电阻率范围：ρ﹥0.1Ω·cm（非回炉料）               
2.3 测试速度：1分钟/片                       
2.4 红外光源波长： 0.904～0.905μm                    
2.5 高频振荡源：用石英谐振器，振荡频率：30MHZ 
2.6 前置放大器，放大倍数约25，频宽2HZ-2MHZ 
2.7 可测单晶尺寸：断面竖测： 
直径25mm-150mm；厚度2mm-500mm 
纵向卧测：直径5mm-20mm；长度50mm-200mm 
2.8 测量方式：采用数字示波器直接读数方式 
2.9 测试分辨率：专用数字存储示波器Z小分辨率0.01μs  
2.10 设备重量：20 Kg  
2.11 仪器电源：电源电压类型：单相210～230V,50Hz,带电源隔离、滤波、稳压，不能与未做保护措施的大功率、高频设备共用电源。

数字手持式风速  N962