edx光谱分析仪

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内（0.005～10nm）的电磁波。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行。当X射线作为高能粒子束轰击介质时，原子的内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来。    

1、edx光谱分析仪技术原理

　　X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

　　元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常数。

　而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

2、X荧光光谱仪主要用途

　　X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。

近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得*多也*广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Na到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

3、X荧光光谱仪的优点

　　a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

　　b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

　　c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

　　d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

3、EDX系列荧光光谱仪在地矿行业的应用

矿产勘查是矿业投资成功率***、风险、回报*不确定的阶段，在矿产勘查阶段，投资蕴藏着极大的风险。随着我国矿产资源勘查和矿业工作发展战略从过去的外延式发展为主转而侧重于内涵式发展和战略性转变，政府开始重视对矿产资源勘查开发的有效投入，促进矿产资源投资主体多元化，在减少财政投资经费的同时鼓励商业性矿产勘查与开发。

我国商业性矿产地质勘查体制的框架已初步形成，矿业权制度逐步完善，市场主体正在形成，商业性矿产地质勘查活动已经开始，这大大的加强了各大矿业公司对矿产的勘探和投资力度，但对于矿业公司来说，勘查的分析工具并没有国家各地质勘查局那么全面，这样就制约了各大公司的发展，而且如果目前还采用传统的化学滴定法来对样品进行测试的话，其效率太低，人为误差大。而天瑞仪器股份有限公司制造的各种分析仪器能帮助各种勘探单位对矿产进行勘探，提高效率，***分析，大大缩短勘探时间，加快我国矿产地质勘查事业的发展。 

天瑞仪器秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，EDX4500H再次使检测岩石中元素含量向具体化、快速化方向的迈进。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对矿石中的元素具有超低的检出限；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求，适用面更广；同时引入了目前进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好；优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体、使之性能更好、更便携；更全面的可靠性设计，独特的抗震性设计，及独立散热的风道，使得该仪器通过了江苏省计量测试研究所高低温、高低频电动振动、及湿热等多种环境下的使用；使之可在现场检测以及各类地质勘察多元素检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用。

仪器测试岩屑的X荧光光谱图

Mg元素的测试曲线和数据

Si元素的测试曲线（相关性在90%以上）

K元素的测试曲线（相关性在90%以上）

仪器分析：

谱图如下:

4、 X荧光分析仪EDX4500H产品优势

EDX4500H型X荧光分析仪及其系列产品，测试和准确性很高的分析测试设备。现在将其产品做以下简要阐述：

天瑞仪器公司是生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司，自1992年创办公司以来，一直从事X射线荧光光谱仪的研发制造，2011年推出的高性能台式X荧光合金分析仪EDX4500H,融汇的成分分析技术，配备合金测试效果的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高测试样品中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

EDX4500H光谱仪是天瑞仪器公司为地矿行业开发的仪器类型。具有测试高、测试速度快、测试简单等特点。

性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到水平
针对合金的测试而开发的专用配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
标准配置：
合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技术指标：
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围：1 ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA