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SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪——超级X荧光光谱仪
仪器介绍
SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式)，普通模式能完成全元素，贵金属，RoHS，镀层等常规测试，超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统，降低仪器的背景噪音，提高仪器的检出能力，从而提高仪器的整体检测性能。
技术指标
元素分析范围从钠（Na）到铀（U）
可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率
可对10个样品进行自动切换测试
可同时分析多几十种元素
分析检出限可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性为0.1％
温度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
标准配置
超锐X光源和样品激发机构
上盖电动开关的大容量样品腔
可自动切换的准直器，滤光片
高清晰CCD摄像头
SDD探测器
数字多道采集处理系统
高低压电源
进口400W端窗光管油冷散热系统，具有自动控温功能
样品自动切换系统
全自动真空系统
X荧光分析软件
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
样品腔尺寸：￠376×50 mm
重量：小于250Kg
性能特点
特殊光路系统
采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。
400W大功率X光源
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。
数字多道技术
采用新数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量,缩短了测量时间。
油冷散热系统
油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。
光闸系统
光闸系统，保证X光源的稳定性，同时提升X光管使用寿命。
抽真空系统
抽真空系统，可以满足轻元素的测量。
自动进样系统
自动进样系统，可以连续检测十二个样品，大大提高了测试人员的工作效率。
SUPER XRF 2400侧试模式
普通模式：为普通仪器的常规测试。
超锐模式：使用天瑞仪器特有超锐光路系统，SUPER XRF 2400使用的原理主要能实现两大功能，降低背景，提高检出能力。
一、如图一所示，下图为测土壤中的V（绿）和Cr（红）。实谱为超锐模式，测得的谱图，红色虚谱为普通模式谱图。由图可看出，对于关注元素。超锐模式明显出峰，而普通模式几乎没有出峰。
二、下图二所示，为测土壤中的Zr，实谱为超锐模式所测谱图，红色虚谱为普通模式所测谱图。超锐模式所测得的Zr有效峰背比强度为210.05。普通模式所测得的Zr在相同测试条件下有效峰背比强度为155.72。由图可以看出超锐模式比普通模式出峰要好，而且超锐模式降低了背景。
从以上谱图一可以看出，我们在进行常规测试时。由于土壤中的V、Cr含量低。是无法检测出其含量的。谱图二中，虽然Zr能检测出峰，但是其背景也比较高，对测试的结构影响比较大。而在使用天瑞仪器特有超锐光路系统，能降低背景，检测出低含量的元素，提高仪器的检出能力。从而提高仪器的整体测试效果。
应用领域
