询价
x射线测厚仪价格是厂家的一大优势，x-ray测厚仪的功能主要用于电镀层厚度检测，高，快速简便，x荧光测厚仪国产做的是天瑞仪器，镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。国产x荧光测厚仪Thick800A即使在客户遇到严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的厚度分析效果，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加精准。天瑞仪器的x射线荧光镀层测厚仪的优势在于：
有哪些性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm
快速、无损的分析
成份分析多可达25种元素
同时可多分析5层
基于基本参数法的镀层和成份分析方法
仅需一根USB线与电脑连接
快捷的面板控制按钮
占用空间小、轻量化设计
技术指标有多强？
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层
可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
工作环境：
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
天瑞仪器x射线测厚仪检测图谱非常清晰
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图
X射线测厚仪天瑞Thick800A技术参数
江苏天瑞仪器股份有限公司是x射线测厚仪Thick800A的生产厂家，是一家以X射线荧光光谱仪的研发生产为主，兼营光谱，色谱，质谱三类分析仪的综合性检测仪器上市公司，股票代码300165。Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
rel="nofollow" 详细资料
Thick 8000X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
性能优势
1.精密的三维移动平台
2.卓越的样品观测系统
3.先进的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换
6.双重保护措施，实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动自检、复位；
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；
直接点击全景或局部景图像选取测试点；
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。
技术指标
分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
先进的微孔准直技术：小孔径达0.1mm小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
