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黎小姐女士(联系我时，请说明是在维库仪器仪表网看到的，谢谢)
X荧光光谱仪样品薄膜CAT. 6
X荧光光谱仪样品薄膜
产品详细信息：
Pre-Perforated Thin-Film Sampel Supports
PROLENE? FILM
CAT. NO：416
Gauge：0.00016”，4.0 μm；0.16mil，40,640A
Typical Impurities，PPM：Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, Al
Chemplex? INDUSTRIES，INC.
ROLL：3” x 300’ (7.6cm x 91.4m)； Lot No：082176。
在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。
选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。
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