M-2型甩卖数字式电阻率测试仪 是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置,它可以测量片状,块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(也称方块电阻)。换上特制的四探针测试夹具,还可以对金属导体的低,中值电阻进行测量
M-2型甩卖数字式电阻率测试仪 是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置,它可以测量片状,块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(也称方块电阻)。换上特制的四探针测试夹具,还可以对金属导体的低,中值电阻进行测量。
仪器由主机,测试探头(可选配测试台)等部分组成,测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源,高分辨率ADC,嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成,定位准确,游移率较小,寿命长。
仪器适用于半导体材料厂,半导体器件厂,科研单位,高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合.
M-2型甩卖数字式电阻率测试仪 工作条件为:
温度:
相对湿度: 60% ~ 70%
工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源
二·M-2型甩卖数字式电阻率测试仪 技术参数
1. 测量范围:
电阻率:10 -2 ~ 102Ω-cm
方块电阻:10 -1 ~ 103Ω/□
电阻:10 -3 ~ 9999Ω
2. 可测半导体材料尺寸
直径:15mm-100mm
长(或高)度:≤400mm
3. 测量方位:
轴向,径向均可
4. 数字电压表
量程:2V
误差: :± 0.1% FSB ± 2LSB
分辨力:10μA
: 18位ADC ( 5 1/2 位)
显示:4位数字显示,小数点自动显示
5. 数控恒流源
电流输出: 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调,系统自动调整。
误差:± 0.1% FSB ± 0.5LSB
6. 四探针测试探头:
探针间距: 1mm
探针机械游移率:± 1%
探针:碳化钨,直径0.5mm
7.电源:
DC 4.5V ~8V
功耗: < 1W
电源适配器:输入: 220V±10% 50Hz 3
甩卖数字式电阻率测试仪
产品名称:电阻率及型号测试仪 硅半导体测试仪 产品型号:JX2008 |
电阻率及型号测试仪 硅半导体测试仪型号:JX2008
产品说明
JX2008 电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能
综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和
轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。
JX2008 电阻率及型号测试仪 产品特点
1仪器采用 220V 交流电源供电。
2 同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。
3 拥有较高的电阻率测试分辨率, 小可到0.001欧姆.厘米。
4 能的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材
料型号。
5 独立的 P/N 型重掺告警设置,便于工厂大规模快速选料。
6 适中的体积和便携性。
7 简单的操作,快速的测试。
8 低廉的价格,很高的性价比。
1.具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。
2.电阻率分档直观,P/N报警门限分设。
3.预设样片厚度,自动修正,直读电阻率
4.P/N分选强
5.交流电AC220V供电
6.主机尺寸:155×120×50mm
6.电阻率:0.001-100欧姆厘米
7.P/N型号:0.05欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米
产品名称:微电脑页岩膨胀测试仪 页岩膨胀测试仪 产品型号:NP-03 |
微电脑页岩膨胀测试仪 页岩膨胀测试仪 型号:NP-03
适用范围:用于防塌泥浆及处理剂的研究,采用先进的计算机仿真及多进程测控技术,能同时测定三个样本。能自由设定每个样品的时间间隔实时显示采样结果以及膨胀曲线,软件有校零功能,对测试数据可进行监控、保存、打印等。
主要技术参数:
测量范围:10mm
分辨率:0.01mm
自动检测、动态显示、历史保存