镀层厚度检测仪 膜厚仪

  X射线荧光光谱仪工作原理介绍
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。下是这两类仪器的原理图。
    用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。
  X射线荧光光谱仪分析的一般步骤是：选择分析方法，样品制备，仪器参数选择与校准曲线的制作，试样分析。 
　　SuperQ是Axios系列X 射线荧光光谱分析仪的主操作软件，控制光谱仪的运行和定性定量分析数据的处理。SuperQ先汇编各测量参数，再依次检查光学电学条件、校正系数，zui后自动汇编建成定性或定量分析测量程序。 
　　Omnian以全程扫描为定性分析的基础，用13个合成的参考样品建立扫描程序获得的测量强度，以此作为定量分析的依据；适用于分析范围很宽的固体、粉末和液体试样的快速无标样近似定量（半定量）分析。

天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列产品是天瑞集多年镀层行业的经验，专门研发用于镀层行业的多款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。天瑞镀层测厚仪功能强大，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。江苏天瑞仪器股份有限公司是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。 2011年1月25日，天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165。

  Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

性能优势

精密的三维移动平台
卓越的样品观测系统
先进的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，孔径达0.1mm，光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃