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晶体磁光-塞曼效应综合实验仪
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晶体磁光-塞曼效应综合实验仪

产品价格:
电议
产品型号:
MOZ-Ⅲ
供应商等级:
金牌会员12年
经营模式:
其他
企业名称:
北京同德创业科技有限公司
所属地区:
北京市
发布时间:
2019/8/1 15:45:24

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王先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

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北京同德创业科技有限公司

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经营模式:其他

所在地:北京市

主营产品:涂布机、杂质度过滤机

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晶体磁光-塞曼效应综合实验仪    型号:MOZ-Ⅲ

一、实验目的  
      1、观察法拉第磁光效应的物理现象。  
      2、采用消光法确定样品的法拉第旋光角,研究样品的θ~B关系。  
      3、计算样品的维尔德常数。  
      4、学习法布里一波罗标准具的使用方法;  
      5、观测汞原子546.1nm光谱线在磁场中分裂情况及其偏振特点;  
      6、测定电子的荷质比;  晶体磁光-塞曼效应综合实验仪二、仪器配置与技术参数  
      1、电磁铁:磁感应强度1.3T,可连续调节,磁路材料为电工纯铁,磁路通光孔径φ6mm,磁间距≥8mm。  
      2、笔形汞灯:灯管直径6.5mm;  
      3、F-P标准具:平面度优于λ/100,节圈间距5mm,空气间隔,可调节;  
      4、特斯拉计:测量范围0—2T,分辨率0.0001T;  
      5、干涉滤光片:中心波长546.1nm;  
      6、测微目镜:分辨率0.01mm,测量范围8mm;  
      7、半导体激光器:波长635nm,功率5mW;  
      8、磁光样品:铅玻璃,φ6mm,L=7.5mm。      晶体磁光-塞曼效应综合实验仪      9、起偏器:产生直线偏振光,透振方向具有50Hz小角度摆幅。  
     10、测角仪:具有刻度值的检偏器,360°的刻度值,附有1′的游标。  
     11、光电接收:接收透过检偏器的光强。  
     12、精密光学支架:支撑F—P标准具、激光器、起偏器、测角仪、光电接收管等元器件 

晶体磁光-塞曼效应综合实验仪




晶体磁光-塞曼效应综合实验仪






产品名称:LED光电特性与色度学测量综合实验仪
产品型号:CF-RLE-SA01

LED光电特性与色度学测量综合实验仪 型号:CF-RLE-SA01

一、实验简介 
      LED是新一代发光器件,以其低功耗,高效率,高稳定型等特点在照明、光通信等领域逐步替代传统光源。对LED的各项参数的理解与测试方式的掌握是开发应用此类器件的基础。采用新光电器件及现在工业广泛应用的测试方法开发的此套教学实验产品适用于光电本科生基础光电实验及高职院校学生实训课程。 
二、实验内容 
      1、LED点参数测量实验; 
      2、LED光强度、辐射量、光度量测量实验; 
      3、LED发散角测量实验; 
      4、色度学实验。 
三、仪器配置与技术参数 
      1、光纤光谱仪: 
           分辨率:2nm@350~850nm; 
           灵敏度:40photons./count@600nm;   
           探测器:CCD线阵2048个像素; 
           信噪比:200:1;                  动态范围:2000:1; 
           A/D转换卡:16位,2MHz;         积分时间:1.1ms~10min; 
           接口:UISB2.0,480Mbps;          采样速率:1.1ms/scan; 
           外型尺寸:175mm×110mm×44mm;   重量:720g。 
      2、电器组件: 
            电流表头:0~500mA数字3位半显示,限流保护开关;电压表头:0~15V数字3位半显示; 
      稳压电源。 
      3、探测器组件: 
            照度计主机测量范围:0.01lm~50000lm;探测器响应波长:280nm~780nm。 
      4、机械组件: 
            调节支座、支杆、高旋转台,读数分辨率10″。 
      5、预留LD测量接口。 
      6、积分球:内部直径50mm,采样口直径8mm。 
      7、软件组件:光源反射测试模块,LED色坐标测试模块。





产品名称:声波测厚仪 
产品型号:HCH-3000C+

声波测厚仪 型号:HCH-3000C+
 一、概述 
HCH-3000C+声波测厚仪(测量范围: 0.7-350mm  显示:0.1mm)是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器,适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何声波的良导体的厚度值,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,检测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。 
二、产品性能 

HCH-3000C+声波测厚仪产品性能 
测量单位米制/英制可选 
五种探头任意匹配 
已知材料声速可测厚度 
根据已知材料厚度反测声速 
数据传输,可与微型打印机或PC连接 
测量单位公制/英制可选 
分组存储数据共6组,每组存100个测量点 
两种测量模式,基本模式,监测模式 
自动识别探头,也可以手动选择探头 
可设置关机方式,背光开或闭,恢复出厂状态 
HCH-3000C+声波测厚仪技术参数: 
1.测量范围: 0.7-350mm 
2.显示:0.1mm 
3.探头频率:2MHZ--10MHZ 
4.显示方式:LCD显示(带背光) 
5.储存方式:手动存储方式 
6.测量误差(H为所测厚度值):H<10mm  ±0.1mm        
                              H≥10mm   ±(0.1+H/100)  
7.存储值:  6组每组100个测量点 
8.声速范围:1000--9990M/S 
9.使用环境:温度-10°C ~ 60°C       相对湿度小于90% 
10.电源:    2节5号电池 
11.自动关机:人工设置 
12.键盘:    6键防水,防油键盘 
13.尺寸/重量:146*81*30MM  360克 

三、HCH-3000C+声波测厚仪配置单 

HCH-3000C+声波测厚仪配置单: 
HCH-3000C+声波测厚仪主机、探头(φ8一支) 、藕合剂 、说明书 、保修卡、合格证 、5号电池、手提箱。 
HCH-3000C+声波测厚仪可选配件: 
打印机及通讯打印连线一套、微机通讯软件一个、阶梯试块、高温探头、铸铁探头、小管径探头、高温耦合剂等


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