直销智能型裂缝测宽仪

直销智能型裂缝测宽仪  型号：TC-020641
 可广泛用于桥梁、隧道、建筑物、混凝土路面、金属表面等裂缝宽度的定量检测。设备主要由手持式彩色液晶屏主机、彩色显微放大探头（带1.0米连接缆)构成，测量时程序自动扫描捕获裂缝并在显示屏上实时显示裂缝的宽度数值，也可以对需要的裂缝进行拍照（裂缝照片中同时保存裂缝图像,宽度数据,刻度尺,放大倍数和裂缝编号等图像信息）。 
一、功能特点 
1.自动判读裂缝宽度，直接将裂缝宽度值数字显示在屏幕上； 
2.自动拍摄裂缝照片，实时进行图像显示； 
3.存贮照片、数据可回放查看； 
4.可选择使用多种放大倍数探头，测试范围可达到0～12mm； 
5.探头（摄像头）自带照明装置，全天侯工作，不受光线变化的影响； 
6.手持式主机采用工程塑料，轻巧美观，结实耐用； 
7.简单对准裂缝即可自动读数，无需任何设置，傻瓜式操作； 
8.国内能在裂缝照片中同时保存裂缝图像,宽度数据,刻度尺,裂缝编号等信息（如下图）； 
9.主机和探头共同一块锂电池供电； 
10.提供3种不同功能型价位选择，可升级功能,满足不同用户的需要； 
11.参考规范：GJG125－99《危险房屋鉴定标准》。 
二、技术规格 直销智能型裂缝测宽仪 1. 测试范围：0～6mm(可定制)； 
2. ：优于0.01mm； 
3. 工作温度：－20～60℃； 
4. 主机接口:标准USB； 
5. 存储介质：可保存照片3000张以上； 
6. 图像储存格式：BMP格式,24位彩色／320＊240； 
7. 供电：锂电池。

直销智能型裂缝测宽仪 

直销智能型裂缝测宽仪 

产品名称：激光铁路车轮检查仪 产品型号： TC-020640

激光铁路车轮检查仪订购编号： TC-020640

概述： 

机车车辆的车轮轮缘呈不规则的几何形状，它的几何状态参数对列车的安全运行十分重要，影响列车运行的速度与平稳度。它的测量比较复杂，传统的检测方法通常是用带有游标的三种检查尺，这种工具操作复杂，并且是机械式读数，测量误差受人为因素影响比较大，而且不能实现对检测数据的数字化管理。随着我国铁路事业的发展，列车运行速度不断提高，对车轮轮缘状态参数的、快速测量和数字化管理变得十分重要。 
     激光铁路车轮检查仪采用了现代激光传感器技术、单片机处理系统和简洁稳定的机械结构，可方便而地对车轮几何状态参数进行连续、快速测量，对车轮半径、轮缘高度、轮缘厚度、轮辋厚度、70mm处磨损量等参数实现数字化检测，该系统还具有与计算机通讯的功能，把数据传输到计算机，利用的软件进行数据管理。 
 检测仪使用条件和技术指标： 
1、使用条件 
环境温度 ： -20 ℃~ +50℃ 
相对湿度 ： ≤90%RH 
海拔 ： ≤2500m 

2、技术指标

显示分辨率 ：0.01mm

存储数组容量 ：2000组

PC接口 ：RS232/USB

供电 :可充电锂离子电池，工作时间12小时

产品名称：多功能数字式四探针测试仪 产品型号： ST2258C

多功能数字式四探针测试仪 型号： ST2258C

概述

      ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 
      ST2258C型多功能数字式四探针测试仪成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，分类10类。 
      探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。   
      测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》   
仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。   
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  基本技术参数1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级） 
    电    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    电 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方块电阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□）   
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径： SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等级 

 4.工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W