电阻率方块电阻测试仪

电阻率方块电阻测试仪 

 本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。 
由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。 
由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。 
仪器性能 电阻率方块电阻测试仪 方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□； 
电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m； 
探针压力：25g～250g； 
探针曲率半径：25μm～450μm 
（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）； 
测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA； 
测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调 
           （100mA档）    8～36V连续可调 
          （1000mA档）    8～15V连续可调； 
测量方式：手动或自动（配置专用测试软件）； 
测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。 
 

电阻率方块电阻测试仪 

电阻率方块电阻测试仪 

产品名称：单目生物显微镜 产品型号：XSP-1C

单目生物显微镜 型号：XSP-1C
一、仪器简介： 
此款显微镜其以单目四孔转换可放大至40-1600倍，具有功能齐全,成像清晰,性价比高等优点。适合于做人体三大常规化验以及农、林、渔养殖业等小型单位做分析化验。总放大倍数：40-1600X 
二、功能与特点： 
1、传统机型，质量稳定，性价比高。 
2、采用可升降阿贝聚光镜，聚光调节范围大，衬度好。 
3、采用行星式同轴粗微动调焦装置，调焦舒适平稳。 
4、采用带有刻度标尺的双层机械载物台，同轴纵横向调节手轮，操作更灵便。 
三仪器参数： 
1平场目镜:WF10X/ф18mm  WF16X/ф11mm 
2消色差物镜： 4X/0.10、10X/0.25、40X/0.65（弹簧）、100X/1.25（油、弹簧） 
3总放大倍数:40X-1600X 
4观察头：铰链式45°倾斜   可360°旋转 
5转换器：四孔（内向式滚珠位）  
6粗微调调焦范围：20mm微动格值：2um 粗微动同轴调焦,粗动松紧可调,带锁紧和限位 
7载物台：单层移动平台尺寸110X110mm 移动范围 60X20mm  游标格值0.1mm 
8机械筒长：160mm     
9光瞳距离：55-75mm 
10聚光镜：1.25NA阿贝聚光镜，可变光栏带滤色片（上下升降） 
11照明：220V卤素灯 卤钨灯泡 6V12W 
12仪器重量:净重2.4公斤    毛重3.8公斤  
13仪器尺寸:仪器尺寸22X36X36.5（cm）   包装尺寸33.5X28X59(cm)

产品名称：紫外线强度检测仪 产品型号：UV4

紫外线强度检测仪   型号：UV4

 技术参数     
测量范围：0~19999uW/  
测量：±（0.2％FS±1个字）  
输入规格：0~5VDC   
输出规格：双路继电器无源开关点输出  
 继电器无源开关点输出:250VAC 1A/30VDC 1A(阻性负载)  
显示方式：双排4位LED数字显示  
电源：85～265VAC 50/60Hz  
功耗：≤5W  
安装方式：面板式  
外观尺寸48mm*48mm*97mm    
开孔尺寸：45mm*45mm  
重量：320g  
环境温度：0～+50℃  
环境湿度：35～85％RH