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导热系数测试仪 型号： DRL-II
主要测试薄的热导体、硅胶、硅橡胶、固体电缘材料、导热硅胶、导热树脂、氧化铍瓷、陶瓷基片、陶瓷基板、其他铝基片、铝基板、氧化铝瓷等陶瓷导热系数测定。检测材料为固态片状，加围框可检测粉状态材料及膏状材料。
仪器参考标准：MIL-I-49456A（缘片材、导热树脂、热导玻纤增强）；GB 5598-85（氧化铍瓷导热系数测定方法）；ASTM D5470-2006（薄的热导性固体电缘材料传热性能的测试标准）等。广泛应用在大中院校，科研单位，质检部门和生产厂的材料分析检测。
二、主要技术参数：
1、试样大小：≤Φ30mm
2、试样厚度：0.02-20mm
3、热控温范围：室温-299.99℃,控温0.01℃
4、冷控温范围：0-99.00℃，控温0.01℃
5、导热系数测试范围：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k
6、热阻测试范围：0.05～0.000005m2*K/W
7、测试：优于3%
8、试样可在真空状态下试验，确保测试环境及，真空度0.1MPa.
9、导热系数测试仪实验方式：a.材料导热系数测试。b、接触热阻测试。
10、计算机全自动测试，并实现数据打印输出。
导热系数测试仪
 | 产品名称：(不带真空装置) 热流法导热系数测试仪 产品型号：DRL-III-C |
热流法导热系数测试仪(不带真空装置) 型号：DRL-III-C
一、概论：
主要用于测试薄的热导体、固体电缘材料、导热硅脂、树脂、橡胶、氧化铍瓷、氧化铝瓷等材料的热阻以及固体界面处的接触热阻和材料的导热系数。检测材料为固态片状，加围框可检测粉状态材料及膏状材料。
仪器参考标准：MIL-I-49456A（缘片材、导热树脂、热导玻纤增强）；GB 5598（氧化铍瓷导热系数测定方法）；ASTM D5470-2006（薄的热导性固体电缘材料传热性能的测试标准）等。
导热系数测试仪特点：带自动加压，自动测厚装置，并连计算机实现全自动控制。仪器采用6点温度梯度检测，提高了测试。可检测不同压力下热阻曲线，采用优化的数学模型，可测量材料导热系数和热阻以及界面处接触热阻等多个参数。
广泛应用在高等院校，科研单位，质检部门和生产厂的材料导热分析检测。
二、主要技术参数：
1、试样大小：≤Φ30mm
2、试样厚度：0.02-20mm
3、热控温范围：室温-299.99℃,控温0.01℃
4、冷控温范围：0-99.00℃,控温0.01℃
5、导热系数测试范围：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k
6、热阻测试范围：0.05～0.000005m2*K/W
7、压力测量范围：0～1000N
8、位移测量范围：0～30.00mm
9、测试：优于3%
10、实验方式：a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。 11、计算机全自动测试，并实现数据打印输出。
 | 产品名称：台式COD快速测定仪 实验室COD测定仪 产品型号：JJ-7618A |
台式COD快速测定仪 实验室COD测定仪 型号：JJ-7618
一、简介
台式COD快速测定仪是利用密封催化消解，然后进行比色法测量。仪器采用先进的冷光源、窄带干涉技术及微电脑自动处理数据，直接显示样品的COD（mg/L）值。该仪器广泛适用于环境监测、污水处理及大专院校、科研单位等部门；
二、特点
? 测定仪与消解仪分开，不影响光学系统的稳定性。
? 测定仪为冷光源、窄带干涉光学系统，光学稳定性好。
? 消解仪温度PID自动控温、计时，高。
? 消解温度和时间可无级设定，以用于其它用途。
? 可各保存标准曲线10条及999个测定值，断电不丢失。
? LCD大屏液晶显示，操作方便直观。
? 具有出厂工作曲线恢复功能。
? 具有打印功能：可对测试的记录立即打印或查询记录打印。
? USB接口，可连接电脑。
三、台式COD快速测定仪主要技术指标
测量范围：5～2000mg/L（过稀释测定）;
示值误差：≤±5 %
重复性 ：≤3%
抗氯干扰：≤2000mg/L
温控系统：室温~180℃可设定，消解温度为165℃。
控温：±0.5℃
控温时间：1~999min可调
消解时间： 15min
光学稳定性：仪器吸光值在20min内漂移小于0.002A
批处理量：16个水样
环境温度:5～40℃；
相对湿度: ≤85%；
外形尺寸：COD测定仪 340mm×250mm×130mm、消解仪：216mm×320mm×146mm；
重量： 主机4kg 、 消解仪6kg
供电电源: AC(220±22)V；（50±0.5）Hz；
功耗：＜500W
四、台式COD快速测定仪配制清单
主机1台、消解仪1台、消解比色管15支，试管架1个，COD试剂1套，消解防护罩1个，使用说明书1份，产品合格证1份及保修卡1份。
