X荧光光谱仪_天瑞仪器

X荧光光谱仪_江苏天瑞仪器股份有限公司生产销售_欢迎来电咨询

X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关新的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪。

EDX 3600K X荧光光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。

应用领域

专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

性能优势

1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率达到139eV，各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析。

2. 测试更高，检出限更低
①化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试。
②采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和。

3. 分析速度更快，从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术，其线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从第1秒就可以得出定性定量结果，
设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作
软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能
①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统
警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作。

仪器配置

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型

技术参数

型号：EDX3600K
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下
滤光片：6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：独特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃

软件优势

采用公司新的能谱EDXRF软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。

定性与定量分析

              （一）、定性分析
定性分析是X荧光光谱分析的基础，因为只有从仪器获得的谱图中辨认峰谱，才能知道待测试样中还有那些元素，并且分析待测元素的主要谱线，以及常见的干扰谱线，以便选择合适的测量谱线，用于定量分析方法，确定谱线的重叠校正方法，选择校正元素，终达到准确测试样品的效果。
定性分析的方法：
1、 判断仪器的能量刻度是否正确，可以用已知元素的样品进行测试，观察是否能够正确识别样品中的元素。如果不正确，需要重新建立能量刻度。
2、 首先判断X光管靶材的特征峰位。其峰位处的峰谱，可能不是样品所含有的元素。
3、 分辨元素峰谱的K线和L线，一般情况下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多测试其K线，但35＃～52#之间的元素，其L线也可以被检测出来，同时它的L线会对轻元素测量产生影响。52＃以后的元素一般测试其L线。
4、 K线一般有K线必然有K线，线的强度比例在5:1左右，L线必然有L、L…等4条线，在判断是否是某元素时必须考虑这一因素。
5、 观察各个线之间的干扰，找到干扰的元素线系，并确定重叠干扰线之间的影响程度。
 
（二）、定量分析
              X荧光的定量分析可以简化为以下公式，它受四种因素影响：
                                                 Ci＝KiIiMiSi
              式中：C为待测元素的浓度，下标I式待测元素；K为仪器的校正因子；I式测得的待测元素X射线荧光强度，经过背景、谱重叠和死时间校正后，获得的纯强度。M式元素间的吸收和增强效应校正。S与样品的物理形态有关，如试样的均匀性、厚度、表面结果等，要通过制样来消除。
       根据以上的简化公式，可以将定量分析的方法分为以下几个步骤：
①     根据样品的物理形态和对分析与准确度要求，决定采用何种的制样方法。确定了制样方法后，应了解制样的误差主要因素，应该在方法中加以注意。
②     用标准样品确定的分析条件，如：X射线管的管压，管流，原级谱滤光片，测量时间等。
③     确定强度的提取方法。
④     制作工作曲线。
⑤     用标准样品验证分析方法的可靠性及分析数据的不确定度。

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，ROHS检测仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。

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