询价
- 测量元素范围：钠（Na）到铀（U）
- 元素含量分析范围：ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
- 同时分析元素：一次性可测几十种元素
- 测量时间：60秒-200秒
- 能量分辨率为：（140±5）eV
- 管压：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构
仪器配置
铍窗电制冷SDD探测器
X荧光光谱仪自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
X荧光光谱仪自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型
技术参数
型号：EDX3600K
X射线源：50KV、1mA
X荧光光谱仪样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下
滤光片：6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
软件优势
采用公司新的能谱EDXRF软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
