询价
- 移动平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
- 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层
X射线荧光测厚仪是对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。镀层厚度测试方法主要分为：电涡流法、磁感应法、金相法、库仑法以及X射线荧光法。今天，我们主要为您讲解后三种方法的区别以及关系。
1、测量原理比较| 测试方法 | 测试原理 |
| 金相法 | 利用金相显微镜放大横截面的原理，对镀层厚度放大，进行观测及测量。 |
| 库仑法 | 利用适当的电解液阳极溶解限定面积的覆盖层，根据所耗的电量计算出覆盖层的厚度。 |
| X射线光谱法 | 利用X射线与基体和覆盖层的相互作用产生的离散波长和能量的二次辐射强度与覆盖层单位面积质量之间存在一定的关系。根据校正标准块提供的单位面积质量的覆盖层校正这一关系，给出覆盖层线性厚度。 |
| 测试方法 | 参考标准 | 样品要求 | 仪器 |
| 金相法 | ASTM B487；GB/T 6462 | 镀层厚度不小于1um | 切割机、真空浸渍仪、研磨机、金相显微镜 |
| 库仑法 | ASTM B764；GB/T4955 | 平面不小于5mm2 | 电解测厚仪 |
| X射线光谱法 | ASTM B568； GB/T16921 | 测试面积大于0.05×0.25mm | X-ray镀层测厚仪 |
| 金相法 | 库仑法 | X射线光谱法 | |
| 测试范围 | ＞1um | 0~35um | 重金属0~10um 、其它0~35um |
| 测试 | 高 | 稍差 | 高 |
| 制样 | 制样复杂 | 配置不同电解液 | 简单 |
| 工件损伤 | 有损 | 有损 | 无损 |
| 操作方法 | 操作复杂 | 复杂 | 简单 |
| 测试效率 | 非常低 | 低 | 高 |
| 层数 | 不限 | 单层和Cr/Ni/Cu复合镀层 | 多5层 |
| 镀层预知 | 不需要 | 需要 | 需要 |
| 合金镀层厚度 | 可测 | 不可测 | 可测 |
| 合金成分 | EDS联用 | 不可测 | 可测 |
| 溶液成分测试 | 不可测 | 不可测 | 可测 |
| 人为因素 | 影响大 | 影响大 | 影响小 |
| 价格 | 较高 | 低 | 高 |
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
铜镀镍件X射线荧光测试谱图
| 样 品 名 | 成分Ni(%) | 镀层Ni(um) |
| 吊扣 | 100 | 19.321 |
| 吊扣2# | 100 | 19.665 |
| 吊扣3# | 100 | 18.846 |
| 吊扣4# | 100 | 19.302 |
| 吊扣5# | 100 | 18.971 |
| 吊扣6# | 100 | 19.031 |
| 吊扣7# | 100 | 19.146 |
| 平均值 | 100 | 19.18314 |
| 标准偏差 | 0 | 0.273409 |
| 相对标准偏差 | 0 | 1.425257 |
实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。
X射线荧光测厚仪厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产镀层测厚仪，气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪，等离子发射光谱仪,ROHS分析仪，ROHS检测仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
天瑞仪器镀层测厚仪展厅
