上海恩迪检测控制技术有限公司
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d3 不仅配有微纳米级的高分辨率，而且检测空间大，可以满足较大样品的高分辨率扫描。
关键特征：
● 基于大理石平台的高7轴机械系统，达到+/-1μm
● 190kV/240kV 高功率反射型微米焦点射线源
● 独特的双射线源设计，可选高分辨率穿透型纳米焦点射线源
● JIMA 卡空间分辨率测试可达0.5μm ● 检测范围：Φ620mm x H900mm ● 支持多种平板探测器，探元大小可选 ● 支持diHelix 螺旋CT 扫描和diPlaner 平面CT扫描 ● 可根据需要，进行系统定制化
