上海恩迪检测控制技术有限公司
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d2 型微纳米焦点工业CT
关键特征：
● 基于大理石平台的高5轴机械系统，达到+/-1μm
● 190kV/240kV/300kV高功率反射型微米焦点射线源
● 支持双射线源设计，可选穿透型纳米焦点射线管，可换管头
● JIMA卡空间分辨率测试可达0.5μm ● 检测范围：Φ500mm x H500mm ● 支持多种平板探测器，探元大小可选 ● 支持diHelix 螺旋CT 扫描，更高细节分辨， 避免产生Feldkamp算法伪影 ● 支持diPlaner 平面CT扫描，适于平板型部件的高分辨率检测
