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- 品牌/商标：北京九州
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 产品型号：JZ-803
- 原产地：北京
- 全自动探针测试仪：全新的四轴支撑Z向设计，满足大行程、高、高刚性要求 自动上、下片系统具有良好的载片可靠性，预对准速度快、高
JZ-803全自动探针测试装置
产品简介：
主要针对集成电路、半导体分立器件的料盒对料盒的全自动方式测试设备,兼容4、5、6、8英寸片径的圆片测试。
产品特点：
全新的四轴支撑Z向设计，满足大行程、高、高刚性要求
自动上、下片系统具有良好的载片可靠性，预对准速度快、高
自主研发的CCD自动扫描对准系统，扫描对准高、速度快
Windows 友好界面，测试状态实时显示，简洁明了，便于使用
显微镜观察系统可实现三维调节，更加贴近实际的测试需求。
技术参数：
可测片径：4″、5″、6″、8″
工作台行程：240mm×300mm
工作台速度：≥200mm/s
定位：±0.01mm/160mm
重复：±0.003mm
步进分辨率：0.001mm
承片台Z向行程：30mm
重复：±0.003mm
θ向调节范围：±6 o
关键词：全自动测试设备 电参数、芯片、器件检测
