- 品牌/商标:日置
- 企业类型:贸易商
- 新旧程度:全新
- 原产地:日本
- 类型:智能LCR测试仪
- 测量参数:|Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
- 测量准确度:±0.005%
- 测量范围:取决于前置放大器
- 电源:交流100V~240V,50/60Hz,约50VA
- 重量:8.3kg
- 外形尺寸:360×130×360mm
- 显示:led液晶屏显示
日本日置HIOKI LCR测试仪3535为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能,应用范围广,例如芯片互感、高速磁头测试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535拆离,使用指定电缆将其延伸,并尽可能接近被测物,以减小测量导线的影响。简易的操作和低廉的价格,赋予这些元器件测试仪器出众的性价比。无论是用于实验室评估运行特性,还是用于生产线,都是您的理想选择。
宽频测量范围
测量频率100kHz~120MHz,以4位分辨率进行设置。
快6ms高速测量
4种采样速度可供选择:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。快约为6ms(显示|Z|时),为提高生产线效率提供快速采样。(测量频率视测量参数的不同而不同)。
14种测量参数
可测量以下参数,也可使用计算机捕捉必要的参数。|Z|,|Y|,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Lp,Ls,Cp,Cs,D(tanδ)和Q。
测量的同时进行测量条件的调整
测量频率、信号电平等测量条件,可在监视测量值的同时进行更改,所以可有效发挥于事前测量、评估标准等设置。
测量值的存储
主机可存储200组测量值。保存数据可传输到计算机或打印出来。
放大显示功能
多4组参数可放大显示,便于生产线或其它距显示有一定距离的情况下观察测量值。
打印输出
使用选件9442打印机,测量值、比较结果和屏幕数据可打印输出。
BIN(分类)测量
2种测量多使用10组分类,利用测量值可以很容易地进行分类。
连续测量
可存储30组测量条件。从中可连续测量保存于屏幕的5组测量条件。使用比较器功能时,使用1台、并通过一系列的操作,可获得这些条件的AND输出。
负载补偿功能
测量用于基准参考的样品,可补偿测量值。用此功能可调和各仪器间的测量值。
存储30组测量条件
利用可存储30组包括比较值在内的测量条件的功能,为随时更换的样品检测的反复测量生产线,提供快速响应。
同时测量4种参数
可选择任何4种参数同时测量并显示。
相关补偿功能
可设置以下补偿系数a和b,达到对测量值的补偿。补偿值=a×测量值+b
日本日置HIOKI LCR测试仪3535测试|Z|, L, C, R
测试源频率100kHz~120MHz
高速测量: 6ms
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
日本日置HIOKI3535LCR测试仪通过I/O接口可从外部控制触发、键盘锁开/关、以及测量条件的装载。而且比较结果、测量完成等可以输出,可应用于自动化生产线。
日本日置HIOKILCR测试仪HIOKI 3535标准配置了RS-232C和GP-IB接口,除了电源ON/OFF以外,其它功能都可以由计算机来实现控制。
RS-232C接口:
传输方式: 通信方式: 全双工,同期方式: 启停式传输
传输速度: 9,600、19,200bps数据长度: 8位
奇偶特性: 无
停止位: 1位
符号: CR+LF、CR
跟踪控制: 无
连接方法: D-sub9pin插入式、反向连接
LCR测试仪3535 GP-IB接口:
标准规格: IEEE-488.1 1987
可使用IEEE-488.2 1987的共同指令
日本日置HIOKI 3535LCR测试仪技术参数:
测量参数 | |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ) | |||||||||||||||||||||
前置放大器 |
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测量频率 |
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测量电平 |
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基本 | Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3° | |||||||||||||||||||||
输出阻抗 | 50Ω ± 10Ω(100kHz时) | |||||||||||||||||||||
监视 | 电压0.000V~1.000V | |||||||||||||||||||||
限制 | 电压(设置为CC)0.005V~1.000V | |||||||||||||||||||||
平均 | 关,2,4,8,16,32,64 | |||||||||||||||||||||
触发 | 内置触发器,外置触发器 | |||||||||||||||||||||
比较 | 可得到两组测量参数:百分比,△%,或值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差) | |||||||||||||||||||||
控制盘存储和调用 | 多30组 | |||||||||||||||||||||
屏幕显示 | 测量值和比较器的判断结果 | |||||||||||||||||||||
显示线数 | 可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同 | |||||||||||||||||||||
打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446) | |||||||||||||||||||||
接口 | GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准) | |||||||||||||||||||||
操作环境 | 10~40°C,80%rh,无凝结 | |||||||||||||||||||||
仓储环境 | -10~55°C,80%rh,无凝结 | |||||||||||||||||||||
供电电源 | 交流100V~240V,50/60Hz,约50VA | |||||||||||||||||||||
体积及重量 | 约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg |
日本日置LCR测试仪HIOKI 3535选件:
9700-10 前置放大单元:测量范围: 100mΩ~300kΩ
9677 SMD测试冶具:侧面SMD 电极;工作频率: DC~120MHz,测量对象尺寸: 3.5±0.5mm, 与3535组合使用时,无CE标记
9699 SMD测试冶具:底部SMD电极,工作频率: DC~120MHz,测量对象尺寸: 宽1.0~4.0mm, 高1.5mm以下
9678 连接电缆:电缆长: 2m
9151-02 GP-IB连接电缆:2m 长
日本日置HIOKI LCR测试仪3535产品图片