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TA MICRO-HITE plus M测高仪 |
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快速完成复杂测量任务的选择可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或尺寸测量。同时可以进行一维或二的测量。自动搜索孔和轴的顶点,在动态探测中记录,小值以及小值之间的差值计算。TA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、
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