X射线多晶粉末衍射仪(XRD)

      TD系列X射线衍射仪是国内将可编程序控制器技术及模块化设计理念融入到产品设计中，它的三重无干扰隔离保护方案，使机器性能更加，故障率低，并延长整机使用寿命。它的设计精密，硬件、软年功能，能灵活地适应物质微观结构各种测试、分析和研究工作。TD系列X射线衍射仪以其的控制功能、完善的数据处理软件以及高的测试结果，在国内同类仪器中居于水平。

        TD-3500型X射线衍射仪                                           TD-3600型X射线衍射仪

技术参数

功能特点

■高稳定度X射线发生器

    TD-3000/3500型X射线衍射仪采用PLC（可编程序控制器）控制线路代替单片机控制线路，使仪器故障率降低，性能更加稳定，大大X射线发生器的使用功率，满足部分用户需大功率测试样品的需要。高压控制单元与管理系统实现了真正的电气隔离，隔离电压＞2500V，由PLC模块对高压控制单元进行管理及实时监控，并由真彩色触摸屏实时显示监控信息，及I/O接口模块均采用光电隔离措施，使高压发生器外电路与控制之间真正实现了电气隔离，各模块均采用屏蔽措施，以辐射干扰。

    TD-3600型X射线衍射仪采用美国SPELLMAN高频高压X射线发生器，其主要特点为：

    ◆重量轻，设计紧凑，机壳高13.3cm；

    ◆功率大于85%；

    ◆通过的反馈控制电路获得高稳定性；

    ◆固体封装免维护操作；

    ◆系统失误诊断；

    ◆高电压和发射电流自动缓慢上升到预设值；

    ◆X射线源稳定，长期稳定性：0.01%/8小时。

 ■高多功能测角仪

        测角仪采用高轴承传动，运动控制由一套高全闭环矢量驱动伺服系统来完成，智能驱动包含32位RISC微处理器、高分辨率磁性编码器，能将小的运动位置误差自动修正，可测量结果的高、高准确度，角度重现性可0.0001度，小步进角可0.0001度。

    ◆θ-2θ测角仪指X射线源固定不动，样品和探测器转动的测角形式；

    ◆θs-θd测角仪指样品固定不动，X射线源（source）和探测器（detector）以1:1比率转动的测角形式。除满足常规样品测量外，还可以满足部分用户测量样品的要求，如：液体样品、溶胶态样品、粘稠型样品、松散粉末样品、大块固体样品等。使用维护方便，样品水平放置，有利于操作人员插放样品，方便清理洒落样品，不会因操作失误导致污染样品台，影响测角仪。

    TD-3600型X射线衍射仪采用德国的轴编码盘技术，读出测角仪角度。每次上电不需联机，自动读出测角仪当前角度。

 ■网络、自动通信和自动运行功能

    ◆可以通过LAN（局域网）传输分析结果；

    ◆利用通信通知功能，可以向指定地址通知测试完成，传输测试结果，显示错误报警；

    ◆自动运行系统，可以根据定时器自动完成测试后的停机工作，完成无人管理运行。

 ■的记录控制系统

    采用大规模高、自动化程度高的西门子 PLC（可编程序控制器）控制线路代替原仪器的单片机控制线路，使该仪器记录控制系统计数更加稳定，控制更加简单，结构更加紧凑。使该系统可长时间无故障地稳定运行。PLC技术的引入，让仪器设计模块化结构清晰，由PLC对整个仪器进行集中控制和管理，通过与计算机系统的通讯，可方便完成仪器的控制及衍射数据的收集、存储及后期的数据分析工作。

    ◆线路控制简单，由一套西门子PLC系统与两块集成度高的线路板组成，便于调试安装。

    ◆采用真彩触摸屏实现人机交互，保护功能，实时显示仪器运行状态，用户可以通过触摸屏控制仪器的高压启动、停止，也可以通过机软件实现对仪器的自动控制，整个工作轻松简单。

    ◆触屏可以显示仪器的工作状态及报警信息，信息同时传递给连着的计算机系统，由计算机系统的控制软件对状态及报警信息进行管理，方便了解仪器运行状况及故障信息。

    TD-3600型X射线衍射仪记录控制单元的特点：运用的半导体探测器及的PHA通道设计，可以省却用石墨弯晶单色器带来的诸多烦恼，更可以获得高分辨率和低背景的衍射图谱，可以大大增加衍射谱的强度。

应用软件

    数据分析处理功能：平滑；扣除背底；Kα：剥离；寻峰（标d、2θ、强度、半高宽，显示参数等多种衍射峰表示方法）；改变采样步长、去除杂峰、干扰峰；d值、峰位修正；求积分面积、积分宽度、半高宽；谱图加减、谱图合并；在谱图任意位置文字；两种游标方式（小游标、大游标）；多种缩放功能；多种坐标方式（线性坐标、对数坐标、平方根坐标）；图片放入剪切板；直接在Word或Excel中粘贴；分峰程序、结晶度计算、晶胞参数精修、指标化、晶粒大小分析、残余应力分析、残余奥氏体含量测定、黏土定量分析，已知晶体理论结构，模拟出XRD衍射谱图等。

■结晶度计算 

    多重峰分离及结晶度计算，利用高斯及洛沦兹函数模型，对重叠峰进行拟合分析，确定每个衍射峰角度、强度、半高宽及面积，同时计算出结晶度、晶粒大小及二类应力等。

■定性分析

     数据处理软件具有全谱图和衍射峰位检索匹配功能。全谱图进行检索不需要标明衍射峰角度，利用设计的模式对扫描的全谱图进行处理，将检索对象的主要相、少量相、微量相定性分析；衍射角度检索是根据衍射峰位和强度信息进行检索，一般用于对衍射角度误差较大的数据进行定性分析。

■谱图对比功能

    可打开多十个谱图，可进行三维对比，谱图平铺对比等多种功能比较，用以显示同一样品在不同温度下的变化。

    数据处理软件与Windows相连接，对将要输出的谱图进行标注、粘贴、放大、缩小等功能，也可以将图片放入剪贴板，直接在Word或Excel中粘贴。

■定量分析软件

    采用无标样定量分析，采用全谱拟合方法，计算出主要相、少量相、微量相的百分含量。

衍射仪附件(薄膜测试)

■TXT-9小角衍射附件（选件）

    配置相应附件可进行小角衍射，角度范围0～5°，可对纳米多层薄膜的厚度测试。

■TBM-8平行光薄膜测量附件（选件）

    利用X射线衍射法研究通过蒸发沉积在玻璃、硅单晶，金属聚合物或类似物基底上的薄膜，将薄膜附件安装在广角测角仪上（国产或）将θ轴固定在较低的角度上，低角度入射，2θ自动扫描，使用平晶单色器除掉来自基体的X射线，可以探测薄膜衍射线，一般测量d值较大的样品。

衍射仪附件(织构和应力测试)

■TZG-5多功能集成测量附件

    设计安装在广角测角仪上，配置有高分辨率平行光光学系统，可以解决测量角度误差、衍射峰不对称、分辨率低等问题，克服了聚集光学系统的特点。用于对板状材料、块状材料及基板上的膜的分析，进行晶相检出、取向度检测、应力测试分析等，可以进行织构、应力、薄膜结构等测试。

特点：

    ◆具有图测试装置（有反射法、法、γ振动）、应力测试附件（并倾法、侧倾法）、  薄膜附件（样品表面旋转）；

    ◆可测大而厚的样品（Ф40mm，厚10mm ）；

    ◆由于设计轻巧，在广角测角仪上拆装时简便、轻松；

    ◆TD系统自动控制各个方向动作。

功能：

    ◆图测试（法、反射法）；

    ◆应力测试（并倾法、侧倾法）；

    ◆薄膜测试（样品向内旋转）；

    ◆定量测试（样品面内旋转）。

技术规格：

    ◆α轴（倾斜）：动作范围-45°～90°小步距0.001°/步；

    ◆β轴（面内旋转）：动作范围0°～360°小转动步距0.005°/步；

    ◆z轴（前后）：动作范围10mm 小移动步距0.001mm/步；

    ◆γ轴：动作范围±10mm  水平45°方向摆动。

应用领域：

    ◆辊轧板等金属组织的评价；

    ◆陶瓷取向的评价；

    ◆薄膜样品晶体优先方位的评价；

    ◆各种金属材料、陶瓷材料的残余应力测试（耗性、耐切削性等的评价）；

    ◆多层膜的残余应力测试（膜的剥落等的评价）；

    ◆高温导材料薄膜、金属板等表面氧化、氮化膜的分析；

    ◆玻璃、Si、金属基板上的多层膜的分析（磁性薄膜、金属表面硬化皮膜等）；　　

    ◆大分子材料、纸、镜片等电镀材料的分析。

衍射仪附件(高低温)

■TSM-2 石墨单色器（备）

        TSM石墨单色器是安装在X射线探测器前，将通过接收狭缝后的X射线单色化，只检测X光谱的Kα特征X射线的部件。使用该装置，可以消除连续X射线、Kβ特征X射线和荧光X射线，可以进行高信噪比的X射线衍射分析。可峰背比，降低本底，弱峰的分辨率，反射效率≥35%，并可降低衍射仪的扫描角度。

 ■TGW-1高低温附件（选件）

    为了解高温加热过程中样品晶体结构变化或各种物质高温加热过程中相互溶解的变化等，安装在广角测角仪上的装置。

技术参数

    ◆温度设置：惰性气体环境室温到1200℃

    ◆真空环境：-192℃到1600℃

    ◆温度控制：±0.5℃

    ◆控温方式：Pid设定、温度定值控制（升温、降温、保持、停止）

    ◆窗口材料：耐400℃、0.04㎜聚酯膜

    ◆制冷方式：液氮（消耗量小于4L/h）

    ◆冷却方式：去离子水循环冷却

■TXZ-10 换样器（选件）

    自动换样器是为用户需要样品批量测量而设计的装置，可以对装载6个样品自动进行连续测量。采用步进电机驱动，由可编程序控制器（PLC）控制，无需人工换样，系统自动连续测样，自动保存数据。