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供应多功能数字式四探针测试仪/JZ-ST2258A

产品价格：: 电议

产品型号：: JZ-ST2258A

供应商等级：: 金金牌会员11年

经营模式：: 其他

企业名称：: 北京九州晟欣科技有限公司

所属地区：: 北京市

发布时间：: 2015/11/13 8:56:15

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北京九州晟欣科技有限公司

金会员11年证营业执照已上传

经营模式：其他

所在地：北京市

主营产品：光伏环境监测站、遥测雨量站、表面雷达流速流量站、气象站、土壤墒情监测站、投入式水质监测站

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品牌/商标：九州空间
企业类型：制造商
新旧程度：全新
原产地：北京
多功能数字式四探针测试仪：电阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105 Ω
数字式四探针测试仪：仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点
数字式四探针测定仪：方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□

JZ-ST2258A多功能数字式四探针测试仪

二、概述 多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，分类10类。探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。 仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。三、基本技术参数1. 测量范围、分辨率（可向下拓展1～3个数量级，括号内为向下拓展3个数量级） 电阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104 Ω （1.0×10-6 ～ 200.0×102 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω） 电阻率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm） 方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□ 分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□ （5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101 Ω/□）2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 直径： SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限. 测量方位: 轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等级

满度显示	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
常规量程	kΩ-cm/□			Ω-cm/□			mΩ-cm/□
拓展量程	Ω-cm/□			mΩ-cm/□			μΩ-cm/□
基本误差	±2%FSB±4LSB	±1.5%FSB±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±0.5%FSB±4LSB