Micro Control 是世界范围内老化测试的。并提供基于温控的，对于高功率器件老化测试的解决方案。以及对于逻辑和存储类等低压器件的老化测试解决方案。跟机或单独订购的老化测试板，都可以适用于大多数种类的器件。
产品
HPB-5B | |
| 具备对于每颗芯片的温控功能，支持单颗芯片功率为150w | |
| 每块测试版可设定为的测试区 | |
| 24个温度控制通道 | |
| 每块测试板支持128个数字式I/O接口 | |
| 测试芯片温度到150摄氏度 | |
| 程序可设置温度为150摄氏度 | |
| 每块测试板中，拥有11组可编程电压输入 | |
| 每块测试板，提供800安培的功耗 | |
| 基于ASIC结构的的引脚时序，测试以及数据模式 | |
| 8个运行时序设置 | |
| 系统支持384个芯片同时测试 | |
LC-2 | |
| 可对种类多样的芯片进行老化测试，诸如ASICs, FPGAs,图像处理芯片以及通信芯片 | |
| 具备对于每颗芯片的温控功能，支持单颗芯片功率为20w | |
| 具备64个测试板的大容量系统 | |
| 每块测试板支持128个数字式个I/O接口 | |
| 的引脚时序，测试以及格式 | |
| 测试板规格为12 1/2" × 24" | |
| 16个测试模式区域 | |
| 每块测试版支持250安培的程序电源设置 | |
HPB-4 | |
| 具备对于每颗芯片的温控功能，支持单颗芯片功率为600w | |
| 测试芯片温度到150摄氏度 | |
| 每块测试板支持128个数字式I/O接口 | |
| 每块测试板中，拥有6组可编程电压输入 | |
| 每块测试板，提供1600安培的功耗 | |
| 对测试芯片提供液冷的撒热方式 | |
| 提供power clamp模式的电压调节功能 | |
| 系统支持112个芯片同时测试 | |
LC-1 | |
| 可对种类多样的芯片进行老化测试，诸如闪存芯片，DRAMS，SDRAMSY以及中等功耗的逻辑器件 | |
| 具备64个测试板的大容量系统 | |
| 每块测试板支持128个数字式个I/O接口 | |
| 的引脚时序，测试以及格式 | |
| 测试板规格为12 1/2" × 24" | |
| 16个测试模式区域 | |
| 每块测试版支持60安培的可编程电源控制 | |
| 每块测试版支持120安培的可编程电源控制(可选功能) | |
测试版模块 | |
| 根据不同的老化测试需求，可提供包括端温度以及不间断测试在内的测试板 | |
| 提供2层以及以上的厚度的测试板 | |
| 支持200摄氏度 | |
| 镀金的连接件 | |
