商务咨询 孙伟强
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场的升级。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪特点：
◆ 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
◆ 校准选项
◆ 出厂时已校准，立即可用
◆ 在未知涂层上校准*
◆ 校准*
◆ 在无涂层的基体上一点和多点校准*
◆ 在有涂层的基体上校准*
◆ 校准数据可以别单独存储在的校准档案中，也可以调出
◆ 可选择的显示模式，以形式去完成测量任务*
◆ 输入和限*
◆ 在Windows下有简单的存储读数档案管理*
◆ 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 统计*
◆ 可统计评估999个读数
◆ 小值、值、测量个数、标准偏差和限
◆ 局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
◆ 在线统计，统计值概括
3种配置级别以更好的完成测量任务
基本型 – 证明质量的基本特征
型 - 附加统计评估
型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为型和/或型。升级在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪多探头选择：
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。根据需求，我们也可以订做探头。
|
标准探头Fe 0°用于宽阔的、容易测量的地方 |
标准探头NFe 0° | |
标准探头 NFe 0° | |
标准探头Fe 0° 用于测量表面有宽阔的涂层厚度 | |
标准探头Fe 90°用于测量难接近的部位， 例如：管道的内部 | |
双晶探头Fe 90°用于测量表面有宽阔的涂层 例如：管子的内部涂层. | |
微型探头 Fe/NFe 0° 用于测量小尺寸和难接近的部位,例如：钻孔的底部 | |
微型探头 Fe/NFe 45° 用于测量小尺寸和难接近的部位 | |
微型探头 Fe/NFe 90°用于测量小尺寸和难接近的部位， 例如：管子的内壁和钻孔 | |
技术参数：
◆ 数输接口RS232 或 U
◆ 电源：电池、充电电池、U或外接电源
◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
◆ 存储: 多 9999 个数值，140个文件
◆ 误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或文件传输到Windows
