用途:特性阻测试系统是采用时域反射技术设计的,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻,并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
高频差分特性阻测试仪产品特点:
1、批量化、自动化测试,操作简单、测试快捷,适合PCB工厂快速测试。
2、Windows操作环境,友好的人机界面,自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻测试。
4、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。
5、集成测试文件编辑器,快速设置测试参数。
6、自动记录测试数据,生成报表并保存在磁盘上。
7、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
8、打印测试报表、波形及测试结果。
9、合-TM-650和2141标准。
高频差分特性阻测试仪技术参数
项目 规格
型号 TDR-ZK2130
控制阻测试范围 20~150Ω
测量 50Ω±1%
重复 50Ω±0.5%
测量长度 0.05~2m
水平显示分辨率 0.2mm
垂直显示分辨率 0.05Ω
测试方法 时域反射法
带宽 3GHZ
数据统计分析功能:SPC功能模块(SPC)