| 类型 | 镀层测厚仪 | 测量范围 | (0.25～12.7) μm（mm） |
面铜测厚仪CMI165用途：
牛津仪器i近推出的CMI165，是世界款带温度补偿功能的面铜测厚仪，手持式设计合人体工学原理。一直以来，面铜测厚的结果往往受到样品温度的影响。CMI165温度补偿功能解决了这个问题，测量结果而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探头护罩，探头的耐用性，即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。
面铜测厚仪CMI165特征：
1、数据显示单位可选择mils 、μm或Oz
2、仪器的操作界面十分友好，有英文和简体中文2种语言供选择。
3、强大的数据统计分析功能，包括数据记录、平均数、标准差和上下限提醒功能。
4、测试数据可通过U2.0实现传输。
5、存储量：9690条检测结果，可存储读数，图表，铜类型，线宽值，导电参数及温度补偿值。 单位mils 、μm、Oz
6、供电：普通AA电池供电，不使用自动断电。
7、测量方式：SRP-T1探头自动测量。 8、校准：仪器为工厂预校准无需标准片
面铜测厚仪CMI165技术参数：
项目 规格
铜厚测量范围 非电镀铜 (0.25～12.7) μm， （0.01～0.5）mils
电镀铜 （0.25～245）μm， （0.01～10）mils
0.08@20μm；0.
本公司经营面铜测厚仪，质量，欢迎咨询洽谈。
