采用X荧光光衰减设计理念，内部光路结构更紧凑，光程为常规XRF产品的1/6，将计数率了50%，同时大限度地减弱了空气对测试元素能量的吸收，显著了仪器的测试。采用行业的滤光技术，测试金属样品中的管控元素了1倍，同时灵活的滤光机构设计，可根据客户需求的侧重而定制滤光系统.可满足RoHS&WEEE指令、ELV指令、玩具指令、无卤化标准、REACH法规、无磷、无硫测试相关管控要求。
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