本公司经营电镀测厚仪、电镀层测厚仪，X射线测厚仪质量，欢迎咨询洽谈。电镀测厚仪CMI900用于电子元器件，半导体，PCB，汽车部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。
CMI900-X射线测厚仪-电镀测厚仪技术参数
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
装备有射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室 CMI900 CMI950
－样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
－样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选 300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm
XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
主营： 测厚仪系列
CMI900电镀层测厚仪---(应用于PCB业/五金端子业低样品属于低样品台)
X-stata980X射线镀层测厚仪---(对于测量PCB/电镀业对测薄金同行业的高)
CMI700PCB面铜及孔铜厚度测量仪 ----( 用于PCB板测面铜和孔铜及FPC面铜)
CMI500PCB孔铜测厚仪--- (用于PCB测孔壁铜厚)
CMI200涂层测厚仪 ----(用于测绿油及氧化膜等)
CMI165面铜测厚仪---（铜箔来料检验，化学镀铜及电镀铜，温度补偿功能可以实现高低温的准确测量）
CM95铜箔厚度测厚仪----（用于PCB/FPC铜箔的厚度） 电话：（李生）
