影像校正光谱仪 OmniEvo“谱”
成熟的光学设计能力
OmniEvo光谱仪的光学设计，均采用经典的C-T结构，并结合公司多年的研发经验加以改进，在光学分辨率、通光效率和杂抑制等各项关键指标上的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光谱仪，更是国内款运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪，其性能了国际水平。
全光栅
OmniEvo光谱仪采用光栅（Newport公司生产），高质量的光栅了仪器的光谱性能指标。
灵活的光输入结构选择
OmniEvo光谱仪采用的是标准的狭缝入口，开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择；通过可以选配光纤作为光输入附件，既可用于单点测量，也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。
| OmniEvo光谱仪是卓立汉光新推出的将自有的“谱 ”系列（Omni-λ180i）影像校正光栅光谱仪与英国 Andor公司的iVac制冷型CCD进行整合的新一代光谱 仪产品，充分发挥了“谱”系列产品的光学分光性 能以及iVac制冷型CCD优良的弱光探测性能，具有高的 性价比，是进行荧光、拉曼光谱实验的选择之一。 |
成熟的光学设计能力
OmniEvo光谱仪的光学设计，均采用经典的C-T结构，并结合公司多年的研发经验加以改进，在光学分辨率、通光效率和杂抑制等各项关键指标上的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光谱仪，更是国内款运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪，其性能了国际水平。
全光栅
OmniEvo光谱仪采用光栅（Newport公司生产），高质量的光栅了仪器的光谱性能指标。
| 高灵敏的弱光探测能力 OmniEvo光谱仪选用了Andor公司的科研级、制冷型CCD作为光谱探测器件，在400-1000nm范围内进行了响应度优化，的量子效率60%；芯片的制冷温度了-60℃，使得其读出噪声为6.2e/count，因而能够满足大部分的弱光光谱探测应用。另有制冷温度更-100℃的背感光CCD可选，噪声更低，峰值量子效率80%以上；还提供适用于900-1700nm范围内使用的制冷型线阵InGaAs探测器，可用于近红外波段的光谱信号探测。 |
灵活的光输入结构选择
OmniEvo光谱仪采用的是标准的狭缝入口，开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择；通过可以选配光纤作为光输入附件，既可用于单点测量，也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。
