测试材料的阻Z,导纳Y,电感L,电阻R,介电损耗D,品质因数
射频阻计量器具检定系统
VerificationSchemeofRF
ImpedanceMeasuringInstruments JJG2011-87
代替:高频阻量值传递系统
射频阻计量器具检定系统
本检定系统适用于射(高)频集总参数阻计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材料电磁特性物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
一、计量基准器具
1、高频集总参数阻的计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻量值(包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。
2、射(高)频集总参数阻计量基准器具包括:
2.1空气介质同轴线阻基准,其阻量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻基准,本检定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻量值的统一。在(1-1000)MHz频段,其技术指标为:
反射系数模值|г|:1.000±0.002;相角:±180°±0.5°。
2.2高频阻高频阻精密测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻分析仪,经过准确度论证分析,高频集总参数阻量的以下计量工作性能:
频率:(1-1000)MHz
反射系数模值|г|:1.000±(0.003-0.007)
相角θ:±180°±0.5°;
阻模值|Z|:1Ω-10kΩ±(0.5-10)%
电容C:10pF-100nF±(0.2-10)%;
电感L:10nH-100μH±(0.2-10)%
损耗:tgδ(D)0.001-0.5±<(0.002-0.05)
二、高频集总参数阻标准
3、集总参数阻标准包括:
3.1高频阻标准件50Ω,0Ω,0S。它们由基准通过直接比对法传递量值,技术特性如下:
50Ω:|г|≤0.0025;0Ω:残余阻小于2mΩ;0S:边缘电容值0.080pF。
这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻分析仪、高频LCR表等通用高频阻测量仪器(校准中还需使用直流以和低频阻标准伯)。并由50Ω阻件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。
3.2高频、低频阻分析仪。这些是市售商品高准确度阻测量仪器,也用作计量标准设备,用以定标低准确度的阻标准量具。其技术指标为:
频率:20kHz-1000MHz;
阻|Z|:1Ω-10kΩ±(1-20%);
电容C:10pF-100nF±(0.5-20)%;
电感L:10nH-1.00μH±(0.5-20)%。