WITec′s获奖的TrueSurface显微镜可测量倾斜或粗糙的样品表面,同时保持的聚焦焦点。因此它可以与共焦成像同时进行一个大区域地形扫描。
这种性的成像模式的元素是一个集成的传感器光学轮廓测量。它直接安装在显微镜上,便于用户方便的处理。
传感器操作根据共焦色传感器原理: 为有一个好的映射能力,白光点光源使用透镜系统聚焦在样品,但一个强大的线性彩色误差(多色差透镜系统)。每种颜色有不同的焦距。从样品的反射光通过一个针孔聚焦到光谱仪。因为只有一个特定的颜色是聚焦在样品表面,因此只有这种光可以通过共焦针孔。因此检测波长就可得到表面形貌。
True Surface扫描范围50 x100毫米空间分辨率其中40 - 120 nm的垂直和10- 25μm的横向。测量距离10-16mm，测量速度2000pixels/s。结合AFM, 在高分辨率AFM做大样本测量时,True Surface可以作为预检验的工具来确定地形特性.
TrueSurface显微镜各种不同领域均有应用,包括细观力学、、半导体,官能团表面的成像,生物的成像和制药材料表面性质。
TrueSurface分析倾斜的地质样品。 红色的箭头标志着感兴趣的区域。同样的区域使用TrueSurface成像模式(下图中间)和共焦拉曼成像模式(下图右边,扫描范围:2x2;地形范围:>1.7)。
TrueSurface和共焦拉曼共用成像的药片的一个高度剖面。红色和蓝色为, 绿色是赋形剂。样品的地形变化过300μm。
