E4991A 射频阻／材料分析
基本
基本＋／-0.8％
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平： 1 dBm／0.5 Vrms／10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：＋／-40V 或＋／-50 mA
更多特性
Windows 风格的用户界面
内置 VBA 编程功能
通过 LAN 接口进行数输
多功能测量选件
介电／磁性材料测量（选件 E4991A-002）
的晶圆测量（选件 E4991A-010）
温度特性测量（选件 E4991A-007）
E4991A 射频阻／材料分析提供限阻测量性能和大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻范围内提供更的阻测量结果。基本阻是＋／-0.8％。高 Q 有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 MHz的分辨率。
材料评估
E4991A 提供完整的介电／磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助E4991A-010探针台连接套件，您可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。
温度特性评估
温度特性测试套件 E4991A-007是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在-55°C 至＋150°C 广泛的温度范围内提供高的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
基本
基本＋／-0.8％
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平： 1 dBm／0.5 Vrms／10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：＋／-40V 或＋／-50 mA
更多特性
Windows 风格的用户界面
内置 VBA 编程功能
通过 LAN 接口进行数输
多功能测量选件
介电／磁性材料测量（选件 E4991A-002）
的晶圆测量（选件 E4991A-010）
温度特性测量（选件 E4991A-007）
E4991A 射频阻／材料分析提供限阻测量性能和大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻范围内提供更的阻测量结果。基本阻是＋／-0.8％。高 Q 有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 MHz的分辨率。
材料评估
E4991A 提供完整的介电／磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助E4991A-010探针台连接套件，您可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。
温度特性评估
温度特性测试套件 E4991A-007是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在-55°C 至＋150°C 广泛的温度范围内提供高的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
