手持式X射线荧光（XRF）分析仪：专为流动性材料元素分析而设计
QuickshotXRF是新款的手持式X射线荧光（XRF）分析仪，利用X射线荧光技术，能快捷及准确地，在触摸式手掌计算机PDA的显示屏上，实时显示所测量对象的元素成份及含量，为合RoHS和CPSIA法规的产品有害物质检测、金属矿成份分析及合金质量控制及验证等应用，提供了益及的测试解决方案。
仪器特点及功能：
轻便，整机不足1800克
40 kV微型X射线管
不会使所测量的物体产生同位素，亦不会有二次放射，
Si-PIN探测器
采样测试不受形状和尺寸限制，可对液体、固体、粉末状物质进行快速测量
非破坏性及无须切割样品
可测量的元素范围：从轻至硫（S）到重元素铀（U）。当中包括多种有害属如铅（Pb）、汞（Hg）及名多种金属如黄金（Au）及白银（AG）等
可检测出分之十以内（<10ppm）的水平，合乎CPSIA及RoHS要求。
测试时间：10至300秒，视乎测量参数
分析软件：因应不同应用，可选
-有害物质检测软件包
-金属分析软件包
-合金及钢材等级检定软件包
标配HP iPAQ掌上电脑
可以蓝牙无线或U线缆传输，把数据及数至计算机
充电后可使用5小时以上
软件可与Microsoft Excel表格融合，方便易用，便于数据处理。
QuickshotXRF是新款的手持式X射线荧光（XRF）分析仪，利用X射线荧光技术，能快捷及准确地，在触摸式手掌计算机PDA的显示屏上，实时显示所测量对象的元素成份及含量，为合RoHS和CPSIA法规的产品有害物质检测、金属矿成份分析及合金质量控制及验证等应用，提供了益及的测试解决方案。
仪器特点及功能：
轻便，整机不足1800克
40 kV微型X射线管
不会使所测量的物体产生同位素，亦不会有二次放射，
Si-PIN探测器
采样测试不受形状和尺寸限制，可对液体、固体、粉末状物质进行快速测量
非破坏性及无须切割样品
可测量的元素范围：从轻至硫（S）到重元素铀（U）。当中包括多种有害属如铅（Pb）、汞（Hg）及名多种金属如黄金（Au）及白银（AG）等
可检测出分之十以内（<10ppm）的水平，合乎CPSIA及RoHS要求。
测试时间：10至300秒，视乎测量参数
分析软件：因应不同应用，可选
-有害物质检测软件包
-金属分析软件包
-合金及钢材等级检定软件包
标配HP iPAQ掌上电脑
可以蓝牙无线或U线缆传输，把数据及数至计算机
充电后可使用5小时以上
软件可与Microsoft Excel表格融合，方便易用，便于数据处理。
