新一代设计的？PHOTON RT？是测量光学部件镀膜特性的型分光光度计，根据光谱范围可以选择六种配置（190-1700nm，190-2700nm，190-4500nm，380-1700nm，380-2700nm与380-4500nm）。宽光谱范围可从190nm-4500nm.该仪器的设计改变了行业的测量观念，致力于提供简洁、灵活与速度快的操作。无需任何额外附件与成本，可以实现宽角度的的反射率与率测量，以及实现偏振模式测量，设计的分光光度计包含参考通道，能对直径范围从10mm到120mm的光学部件进行测量研究。
基于光谱光度逆向工程可以测量紫外可见近红外全光谱范围内薄膜材料的折射率n、吸收系数k与薄膜厚度d，？了强大的QA/QC分析与研究开发。
Photon RT分光光度计高高重复性测量，光谱分辨率1.2nm，光度计的为0.0050，重复性0.0025，合各类研究分析的现代需求。装置结实紧凑，可每天的频繁使用。主机有一个大的盖子，为测量舱提供一个简单和方便的通道，光学部件可放置。
测量能力：
？率T，Ts，Tp（0-75°角度范围）
？反射率 R，Rs，Rp（8–75°角度范围）
？根据给定入射角计算T（s＋p）/2和R（s＋p）/2
？样品的光学密度，0–4（D）
？紫外可见近红外全光谱范围内逆向工程的无衰减（自动）nkd测定
？偏振分束片的测量
？特定光谱范围内R和T的积分值
？和反射的光散射特征线
？颜色坐标
？动态测量
基于光谱光度逆向工程可以测量紫外可见近红外全光谱范围内薄膜材料的折射率n、吸收系数k与薄膜厚度d，？了强大的QA/QC分析与研究开发。
Photon RT分光光度计高高重复性测量，光谱分辨率1.2nm，光度计的为0.0050，重复性0.0025，合各类研究分析的现代需求。装置结实紧凑，可每天的频繁使用。主机有一个大的盖子，为测量舱提供一个简单和方便的通道，光学部件可放置。
测量能力：
？率T，Ts，Tp（0-75°角度范围）
？反射率 R，Rs，Rp（8–75°角度范围）
？根据给定入射角计算T（s＋p）/2和R（s＋p）/2
？样品的光学密度，0–4（D）
？紫外可见近红外全光谱范围内逆向工程的无衰减（自动）nkd测定
？偏振分束片的测量
？特定光谱范围内R和T的积分值
？和反射的光散射特征线
？颜色坐标
？动态测量
