编号：WD-7003
？【特点】
1.非电流式测量
？2.样本间距：1-25mm
？3.测量标准范围：0.5-20Ω/□
？4.触摸屏显示
？5.微处理器控制
6.自动校准功能
？7.值监控
？8.不同的测量单元（Ohms/Siemens）
？9.自动调节校准功能
？10.峰值指示器
？11.串行接口（可接 PC 机或打印机）
？12.设计紧凑健壮
本仪器用来测量塑料薄片、纸张、玻璃镀膜等缘表面膜层的方块电阻值，即便是嵌入玻璃、塑料中的膜层也可以用这种仪器进行测量（甚至嵌入 30mm 的也可测量），的非接触式测量方法使测量可以轻松实现。
非接触式测量方法可以测出光学密度值 OD，方块阻值 Siemens，Ω/□，从而表征玻璃膜层或塑料膜层的红外光学性能值，该测量方法为非接触式测量，不需要接触膜层，从而避免划伤膜层。
本仪器拥有不同的功能可以方便的进行测量、控制、质量：
校准、自我修正、公差等等。后的测量结果可以冻结显示（冻结功能按钮），小值、值可以自动存储。
U（2.0）串行接口（V.24、RS-232C）能够进行打印或将测量数输给计算机。该仪器可用于实验室或生产现场进行质量控制。
？【特点】
1.非电流式测量
？2.样本间距：1-25mm
？3.测量标准范围：0.5-20Ω/□
？4.触摸屏显示
？5.微处理器控制
6.自动校准功能
？7.值监控
？8.不同的测量单元（Ohms/Siemens）
？9.自动调节校准功能
？10.峰值指示器
？11.串行接口（可接 PC 机或打印机）
？12.设计紧凑健壮
本仪器用来测量塑料薄片、纸张、玻璃镀膜等缘表面膜层的方块电阻值，即便是嵌入玻璃、塑料中的膜层也可以用这种仪器进行测量（甚至嵌入 30mm 的也可测量），的非接触式测量方法使测量可以轻松实现。
非接触式测量方法可以测出光学密度值 OD，方块阻值 Siemens，Ω/□，从而表征玻璃膜层或塑料膜层的红外光学性能值，该测量方法为非接触式测量，不需要接触膜层，从而避免划伤膜层。
本仪器拥有不同的功能可以方便的进行测量、控制、质量：
校准、自我修正、公差等等。后的测量结果可以冻结显示（冻结功能按钮），小值、值可以自动存储。
U（2.0）串行接口（V.24、RS-232C）能够进行打印或将测量数输给计算机。该仪器可用于实验室或生产现场进行质量控制。
