C测试仪（3504-60, 3504-50, 3504-40）

　　C测试仪3504-60，C测试仪3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
　　C测试仪3504-40记录工具，实现/的测试
　　测量2ms
　　C、D 2项目测试
　　能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
　　测试源频率：120Hz，1kHz
　　RS-232C
　　封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
　　能根据C 和D（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
　　对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
　　查出全机测量中的接触错误，成品率
　　C测试仪3504-60基本参数
　　测量参数 CS，Cp（电容），D（损耗系数tanδ）
　　测量范围 C：0.9400pF～20.0000mF
　　D：0.00001～1.99000
　　基本确度（代表值）C：&plun;0.09%rdg.&plun;10 dgt.，D：&plun;0.0016
　　※测定确度＝基本确度×B×C×D×E，B～Eは各系数
　　测量频率 120Hz，1kHz
　　测量信号电平恒定电压模式：100mV（限3504-60）500 mV，1 V.
　　
　　测量范围：
　　CV 100mV：～170μF 量程（测量频率 1kHz），～1.45mF 量程（测量频率 120Hz）
　　CV 500mV：～170μF 量程（测量频率 1kHz），～1.45mF 量程（测量频率 120Hz）
　　CV 1V：～70μF 量程（测量频率 1kHz），～700μF 量程（测量频率 120Hz）
　　输出电阻 5Ω（开路端子电压模式，上述测量范围以外）
　　显示发光二级管（6行表示，满量程计算器根据量程而定）
　　测量时间典型值：2.0 ms（1 kHz，FAST）
　　※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
　　机能 4端子控制检测功能（限 3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
　　电源 AC 100/120/220/240V&plun;10%（可选择），50/60Hz，110VA
　　体积及重量 260W×100H×220Dmm，3.8kg
　　附件电源线×1，预备电源保险丝×1
　　C测试仪3504-50输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。